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9781482210200 - Spatial Point Patterns: Methodology and Applications with R (Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics) de Baddeley, Adrian; Rubak, Ege; Turner, Rolf (14 resultados)
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Spatial Point Patterns: Methodology and Applications with R (Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics)
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 51,83
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Spatial Point Patterns : Methodology and Applications With R
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 133,20
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Spatial Point Patterns : Methodology and Applications With R
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 143,28
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Spatial Point Patterns : Methodology and Applications With R
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 130,84
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Spatial Point Patterns: Methodology and Applications with R (Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 145,89
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Spatial Point Patterns : Methodology and Applications With R
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Analysing Spatial Point Patterns with R
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2015
ISBN 10: 1482210207 ISBN 13: 9781482210200
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 166,02
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 400.
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Analysing Spatial Point Patterns with R
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2015
ISBN 10: 1482210207 ISBN 13: 9781482210200
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 164,21
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Spatial Point Patterns: Methodology and Applications With R
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 207,17
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 810 pages. 9.00x7.00x2.00 inches. In Stock.
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Analysing Spatial Point Patterns with R
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2015
ISBN 10: 1482210207 ISBN 13: 9781482210200
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 137,94
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Spatial Point Patterns
Idioma: Inglés
Publicado por Chapman And Hall/CRC Nov 2015, 2015
ISBN 10: 1482210207 ISBN 13: 9781482210200
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 128,50
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Modern Statistical Methodology and Software for Analyzing Spatial Point PatternsSpatial Point Patterns: Methodology and Applications with R shows scientific researchers and applied statisticians from a wide range of fields how to analyze their spatial point pattern data. Making the techniques accessible to non-mathematicians, the authors draw on their 25 years of software development experiences, methodological research, and broad scientific collaborations to deliver a book that clearly and succinctly explains concepts and addresses real scientific questions.Practical Advice on Data Analysis and Guidance on the Validity and Applicability of MethodsThe first part of the book gives an introduction to R software, advice about collecting data, information about handling and manipulating data, and an accessible introduction to the basic concepts of point processes. The second part presents tools for exploratory data analysis, including non-parametric estimation of intensity, correlation, and spacing properties. The third part discusses model-fitting and statistical inference for point patterns. The final part describes point patterns with additional 'structure,' such as complicated marks, space-time observations, three- and higher-dimensional spaces, replicated observations, and point patterns constrained to a network of lines.Easily Analyze Your Own DataThroughout the book, the authors use their spatstat package, which is free, open-source code written in the R language. This package provides a wide range of capabilities for spatial point pattern data, from basic data handling to advanced analytic tools. The book focuses on practical needs from the user's perspective, offering answers to the most frequently asked questions in each chapter. 830 pp. Englisch.
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Spatial Point Patterns
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 151,31
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Spatial Point Patterns
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Spatial Point Patterns : Methodology and Applications with R
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 144,91
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Modern Statistical Methodology and Software for Analyzing Spatial Point PatternsSpatial Point Patterns: Methodology and Applications with R shows scientific researchers and applied statisticians from a wide range of fields how to analyze their spatial point pattern data. Making the techniques accessible to non-mathematicians, the authors draw on their 25 years of software development experiences, methodological research, and broad scientific collaborations to deliver a book that clearly and succinctly explains concepts and addresses real scientific questions.Practical Advice on Data Analysis and Guidance on the Validity and Applicability of MethodsThe first part of the book gives an introduction to R software, advice about collecting data, information about handling and manipulating data, and an accessible introduction to the basic concepts of point processes. The second part presents tools for exploratory data analysis, including non-parametric estimation of intensity, correlation, and spacing properties. The third part discusses model-fitting and statistical inference for point patterns. The final part describes point patterns with additional 'structure,' such as complicated marks, space-time observations, three- and higher-dimensional spaces, replicated observations, and point patterns constrained to a network of lines.Easily Analyze Your Own DataThroughout the book, the authors use their spatstat package, which is free, open-source code written in the R language. This package provides a wide range of capabilities for spatial point pattern data, from basic data handling to advanced analytic tools. The book focuses on practical needs from the user's perspective, offering answers to the most frequently asked questions in each chapter.
