9781461427360 - mems reliability (mems reference shelf) de hartzell, allyson l. l.; da silva, mark g.; shea, herbert r. (16 resultados)
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Taschenbuch. Condición: Neu. MEMS Reliability | Allyson L. Hartzell (u. a.) | Taschenbuch | MEMS Reference Shelf | xiii | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461427360 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The successful launch of viable MEMs product hinges on MEMS reliability, the reliability and qualification for MEMs based products is not widely understood. Companies that have a deep understanding of MEMs reliability view the infor…mation as a competitive advantage and are reluctant to share it.MEMs Reliability, focuses on the reliability and manufacturability of MEMS at a fundamental level by addressing process development and characterization, material property characterization, failure mechanisms and physics of failure (POF), design strategies for improving yield, design for reliability (DFR), packaging and testing. 308 pp. Englisch.
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Demonstrates how to design MEMs for reliability during the product life cycle focusing CAD methodologies and system level architectureProvides detailed information on the different types of failure modes, including bu…t not limited to, design failures, manuf.
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Taschenbuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - The successful launch of viable MEMs product hinges on MEMS reliability, the reliability and qualification for MEMs based products is not widely understood. Companies that have a deep understanding of MEMs reliability view the informatio…n as a competitive advantage and are reluctant to share it.MEMs Reliability, focuses on the reliability and manufacturability of MEMS at a fundamental level by addressing process development and characterization, material property characterization, failure mechanisms and physics of failure (POF), design strategies for improving yield, design for reliability (DFR), packaging and testing.
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -The successful launch of viable MEMs product hinges on MEMS reliability, the reliability and qualification for MEMs based products is not widely understood. Companies that have a deep understanding of MEMs reliability view the informati…on as a competitive advantage and are reluctant to share it.MEMs Reliability, focuses on the reliability and manufacturability of MEMS at a fundamental level by addressing process development and characterization, material property characterization, failure mechanisms and physics of failure (POF), design strategies for improving yield, design for reliability (DFR), packaging and testing.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 308 pp. Englisch.
