9781461378129 - introduction to iddq testing: 8 (frontiers in electronic testing) de chakravarty, s.; thadikaran, paul j. (12 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 25 de 40. Libro 25 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 122,51
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 25 de 40. Libro 25 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 115,49
Envío por EUR 13,86Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 25 de 40. Libro 25 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 130,80
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 25 de 40. Libro 25 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa blanda
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 144,16
Envío por EUR 3,44Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. pp. 348.
Idioma: Inglés
Editorial: Humana 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 25 de 40. Libro 25 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa blanda
Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 95,15
Envío por EUR 70,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. Introduction to IDDQ Testing | S. Chakravarty (u. a.) | Taschenbuch | xix | Englisch | 2012 | Humana | EAN 9781461378129 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, Humana 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 25 de 40. Libro 25 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa blanda
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 114,36
Envío por EUR 62,64Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Testing techniques for VLSI circuits are undergoing many exciting changes. The predominant method for testing digital circuits consists of applying a set of input stimuli to the IC and monitoring the logic levels at primary outputs. If, for one or…more inputs, there is a discrepancy between the observed output and the expected output then the IC is declared to be defective. A new approach to testing digital circuits, which has come to be known as IDDQ testing, has been actively researched for the last fifteen years. In IDDQ testing, the steady state supply current, rather than the logic levels at the primary outputs, is monitored. Years of research suggests that IDDQ testing can significantly improve the quality and reliability of fabricated circuits. This has prompted many semiconductor manufacturers to adopt this testing technique, among them Philips Semiconductors, Ford Microelectronics, Intel, Texas Instruments, LSI Logic, Hewlett-Packard, SUN microsystems, Alcatel, and SGS Thomson. This increase in the use of IDDQ testing should be of interest to three groups of individuals associated with the IC business: Product Managers and Test Engineers, CAD Tool Vendors and Circuit Designers. Introduction to IDDQ Testing is designed to educate this community. The authors have summarized in one volume the main findings of more than fifteen years of research in this area.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 25 de 40. Libro 25 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
Contactar con el vendedorVendedor de 3 estrellasCondición: Nuevo
EUR 86,24
Envío por EUR 6,80Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: new. Questo è un articolo print on demand.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer US Okt 2012 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 25 de 40. Libro 25 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, , AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 106,99
Envío por EUR 23,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Testing techniques for VLSI circuits are undergoing many exciting changes. The predominant method for testing digital circuits consists of applying a set of input stimuli to the IC and monitoring the logic levels at primary outputs.… If, for one or more inputs, there is a discrepancy between the observed output and the expected output then the IC is declared to be defective. A new approach to testing digital circuits, which has come to be known as IDDQ testing, has been actively researched for the last fifteen years. In IDDQ testing, the steady state supply current, rather than the logic levels at the primary outputs, is monitored. Years of research suggests that IDDQ testing can significantly improve the quality and reliability of fabricated circuits. This has prompted many semiconductor manufacturers to adopt this testing technique, among them Philips Semiconductors, Ford Microelectronics, Intel, Texas Instruments, LSI Logic, Hewlett-Packard, SUN microsystems, Alcatel, and SGS Thomson. This increase in the use of IDDQ testing should be of interest to three groups of individuals associated with the IC business: Product Managers and Test Engineers, CAD Tool Vendors and Circuit Designers. Introduction to IDDQ Testing is designed to educate this community. The authors have summarized in one volume the main findings of more than fifteen years of research in this area. 348 pp. Englisch.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer US 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 25 de 40. Libro 25 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: moluna, Greven, , Alemaniamoluna
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 92,27
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Testing techniques for VLSI circuits are undergoing many exciting changes. The predominant method for testing digital circuits consists of applying a set of input stimuli to the IC and monitoring the logic levels at p…rimary outputs. If, for one or more i.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 25 de 40. Libro 25 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: Majestic Books, Hounslow, , Reino UnidoMajestic Books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 149,29
Envío por EUR 7,52Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. Print on Demand pp. 348 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 25 de 40. Libro 25 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 150,11
Envío por EUR 9,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. PRINT ON DEMAND pp. 348.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, Humana Okt 2012 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 25 de 40. Libro 25 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemaniabuchversandmimpf2000
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 106,99
Envío por EUR 60,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Testing techniques for VLSI circuits are undergoing many exciting changes. The predominant method for testing digital circuits consists of applying a set of input stimuli to the IC and monitoring the logic levels at primary outputs. If,… for one or more inputs, there is a discrepancy between the observed output and the expected output then the IC is declared to be defective.A new approach to testing digital circuits, which has come to be known as IDDQ testing, has been actively researched for the last fifteen years. In IDDQ testing, the steady state supply current, rather than the logic levels at the primary outputs, is monitored. Years of research suggests that IDDQ testing can significantly improve the quality and reliability of fabricated circuits. This has prompted many semiconductor manufacturers to adopt this testing technique, among them Philips Semiconductors, Ford Microelectronics, Intel, Texas Instruments, LSI Logic, Hewlett-Packard, SUN microsystems, Alcatel, and SGS Thomson.This increase in the use of IDDQ testing should be of interest to three groups of individuals associated with the IC business: Product Managers and Test Engineers, CAD Tool Vendors and Circuit Designers.Introduction to IDDQ Testing is designed to educate this community. The authors have summarized in one volume the main findings of more than fifteen years of research in this area.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 348 pp. Englisch.
