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9781441982964 - Test and Diagnosis for Small-Delay Defects de Tehranipoor, Mohammad; Peng, Ke; Chakrabarty, Krishnendu (12 resultados)
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 120,43
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 134,86
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 121,03
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 127,16
Envío por EUR 17,39
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 152,34
Envío por EUR 13,89
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 156,43
Envío por EUR 14,49
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 212 pages. 9.25x6.25x0.50 inches. In Stock.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Idioma: Inglés
Publicado por Springer New York, Springer New York, 2011
ISBN 10: 1441982965 ISBN 13: 9781441982964
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 111,53
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 86,24
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Idioma: Inglés
Publicado por Springer New York, Springer New York Sep 2011, 2011
ISBN 10: 1441982965 ISBN 13: 9781441982964
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,99
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise. 232 pp. Englisch.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 89,99
Envío por EUR 48,99
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Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides an introduction to VLSI testing and diagnosis, with a focus on delay testing and small-delay defects Presents the most effective techniques for screening small-delay defects, such as long path-based, slack-based, critical fault-based, and.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 93,35
Envío por EUR 70,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Test and Diagnosis for Small-Delay Defects | Mohammad Tehranipoor (u. a.) | Buch | xviii | Englisch | 2011 | Springer | EAN 9781441982964 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Idioma: Inglés
Publicado por Springer, Springer Sep 2011, 2011
ISBN 10: 1441982965 ISBN 13: 9781441982964
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,99
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 232 pp. Englisch.
