Isbn: 9781441979575 - nanoscale memory repair (integrated circuits and systems) (6 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2011
- Tapa dura
Librería: thebookforest.com, San Rafael, CA, Estados Unidos de Americathebookforest.com
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 115,26
Envío por EUR 4,35Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: Like New. hardcover. Text block firm and clean, binding unblemished, boards straight, without highlights or underlining. Fine, like new condition. Supporting Bay Area Friends of the Library since 2010. Well packaged and promptly shipped.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2011
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 165,57
Envío por EUR 13,17Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In English.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer New York, 2011
- Tapa dura
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 224,71
Envío por EUR 30,50Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Yield and reliability of memories have degraded with device and voltage scaling in the nano-scale era, due to ever-increasing hard/soft errors and device parameter variations. This book systematically describes these yield and reliability issues in terms of mathematics and engineering, as well as an array of repair techniques, based on the authors' long careers in developing memories and low-voltage CMOS circuits. Nanoscale Memory Repair gives a detailed explanation of the various yield models and calculations, as well as various, practical logic and circuits that are critical for higher yield and reliability.…
Idioma: Inglés
Editorial: McGraw-Hill Professional, 2011
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 126,26
Envío por EUR 11,00Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: new. Questo è un articolo print on demand.
Idioma: Inglés
Editorial: SPRINGER NATURE Jan 2011, 2011
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 160,49
Envío por EUR 23,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Yield and reliability of memories have degraded with device and voltage scaling in the nano-scale era, due to ever-increasing hard/soft errors and device parameter variations. This book systematically describes these yield and reliability issues in terms of mathematics and engineering, as well as an array of repair techniques, based on the authors' long careers in developing memories and low-voltage CMOS circuits. Nanoscale Memory Repair gives a detailed explanation of the various yield models and calculations, as well as various, practical logic and circuits that are critical for higher yield and reliability. 218 pp. Englisch.…
Idioma: Inglés
Editorial: Springer New York, 2011
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 137,26
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Gebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Presents the first comprehensive reference to reliability and repair techniques for nano-scale memoriesCovers both the mathematical foundations and engineering applications of yield and reliability in nano-scale memoriesIncludes a variety o.…
