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9781439854150 - Characterization of Nanostructures de Myhra, Sverre; Rivière, John C. (14 resultados)
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Characterization of Nanostructures
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 235,09
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Characterization of Nanostructures
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 225,55
Envío por EUR 28,97
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Characterization of Nanostructures
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 259,76
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Characterization of Nanostructures
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 269,38
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Characterization of Nanostructures
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2012
ISBN 10: 1439854157 ISBN 13: 9781439854150
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 280,85
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
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Characterization of Nanostructures
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 275,93
Envío por EUR 17,38
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Characterization of Nanostructures
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 280,60
Envío por EUR 13,88
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Characterization of Nanostructures
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2012
ISBN 10: 1439854157 ISBN 13: 9781439854150
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 288,95
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 352.
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Characterization of Nanostructures
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 369,54
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 536 pages. 9.20x6.30x1.00 inches. In Stock.
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Characterization of Nanostructures
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2012
ISBN 10: 1439854157 ISBN 13: 9781439854150
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 264,02
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 352 Approx 143 equations This item is printed on demand.
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Characterization of Nanostructures
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 285,83
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Añadir al carritoHRD. Condición: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Myhra, S: Characterization of Nanostructures
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 280,85
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Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Sverre Myhra and John Riviere are affiliated with Oxford University, UK.The techniques and methods that can be applied to materials characterization on the microscale are numerous and well-established. Divided into two parts, Chara.
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Characterization of Nanostructures
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 291,10
Envío por EUR 70,00
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Characterization of Nanostructures | Sverre Myhra (u. a.) | Buch | Einband - fest (Hardcover) | Englisch | 2012 | CRC Press | EAN 9781439854150 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Characterization of Nanostructures
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 368,37
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - The techniques and methods that can be applied to materials characterization on the microscale are numerous and well-established. Divided into two parts, Characterization of Nanostructures provides thumbnail sketches of the most widely used techniques and methods that apply to nanostructures, and discusses typical applications to single nanoscale objects, as well as to ensembles of such objects.Section I: Techniques and Methods overviews the physical principles of the main techniques and describes those operational modes that are most relevant to nanoscale characterization. It provides sufficient technical detail so that readers and prospective users can gain an appreciation of the strengths and limitations of particular techniques. The section covers both mainstream and less commonly used techniques.Section II: Applications of Techniques to Structures of Different Dimensionalities and Functionalities deals with the methods for materials characterization of generic types of systems, using carefully chosen illustrations from the literature. Each chapter begins with a brief description of the materials and supplies a context for the methods for characterization. The volume concludes with a series of flow charts and brief descriptions of tactical issues.The authors focus on the needs of the research laboratory but also address those of quality control, industrial troubleshooting, and online analysis. Characterization of Nanostructures describes those techniques and their operational modes that are most relevant to nanoscale characterization. It is especially relevant to systems of different dimensionalities and functionalities. The book builds a bridge between generalists, who play vital roles in the post-disciplinary area of nanotechnology, and specialists, who view themselves as more in the context of the discipline.
