9781402051876 - design for manufacturability and yield for nano-scale cmos (integrated circuits and systems) de chiang, charles; kawa, jamil (27 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2007
- Tapa dura
Librería: BOOKWEST, Phoenix, AZ, Estados Unidos de AmericaBOOKWEST
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2007
- Tapa blanda
- Edición internacional
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de AmericaRomtrade Corp.
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2007
- Tapa dura
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Condición: Bueno. : Este libro aborda el diseño para la fabricabilidad y el rendimiento de CMOS a nanoescala. Explora los desafíos y soluciones en el diseño de circuitos integrados a nanoescala, centrándose en la optimización para la fabricación y el rendimiento. Cubre temas como la variabilidad del proceso, la gestión de la ene…rgía y las técnicas de diseño para mejorar la fiabilidad y el rendimiento de los sistemas CMOS a nanoescala. EAN: 9781402051876 Tipo: Libros Categoría: Tecnología|Ciencias Título: Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS Autor: Charles Chiang| Jamil Kawa Editorial: Springer Idioma: eng Páginas: 253 Formato: tapa dura.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2007
- Tapa dura
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2007
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2007
- Tapa dura
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2007
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Editorial: Springer, 2007
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Editorial: Springer, 2007
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2007
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Editorial: Springer, 2007
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Editorial: Springer, 2007
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Editorial: Springer, 2007
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Editorial: Springer, 2007
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Editorial: Springer, 2007
- Tapa dura
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
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Editorial: SP SPRINGER, 2007
- Tapa dura
- Edición internacional
Librería: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Reino UnidoUK BOOKS STORE
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2007
- Tapa dura
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2007
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2007
- Tapa dura
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2007
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2007
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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Idioma: Inglés
Editorial: SPRINGER, 2007
- Tapa dura
- Edición internacional
Librería: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Reino UnidoUK BOOKS STORE
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Editorial: Springer, Springer Netherlands, 2007
- Tapa dura
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS walks the reader through all the aspects of manufacturability and yield in a nano-CMOS process and how to address each aspect at the proper design step starting with the design and layout of stand…ard cells and how to yield-grade libraries for critical area and lithography artifacts through place and route, CMP model based simulation and dummy-fill insertion, mask planning, simulation and manufacturing, and through statistical design and statistical timing closure of the design. It alerts the designer to the pitfalls to watch for and to the good practices that can enhance a design's manufacturability and yield. This book is a must read book the serious practicing IC designer and an excellent primer for any graduate student intent on having a career in IC design or in EDA tool development.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2007
- Tapa dura
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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Hardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Netherlands Jul 2007, 2007
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book walks the reader through all the aspects of manufacturability and yield in a nano-CMOS process. It covers all CAD/CAE aspects of a SOC design flow and addresses a new topic (DFM/DFY) critical at 90 nm and beyond. This book is a m…ust read book the serious practicing IC designer and an excellent primer for any graduate student intent on having a career in IC design or in EDA tool development. 288 pp. Englisch.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Netherlands, 2007
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
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EUR 92,27
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Addressing a new topic (DFM/DFY) critical at 90 nm and beyondNo book available today with comprehensive coverage of this topicBook covers all CAD/CAE aspects of a SOC design flowDr. Charles Chiang is R&D Director o…f the Advanced.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, Springer Jul 2007, 2007
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemaniabuchversandmimpf2000
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Manufacturability and yield are no longer a fabrication, packaging, and test concerns. They are aspects that have to be designed in, and they are everybody's responsibility. Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS walks the…reader through all the aspects of manufacturability and yield in a nano-CMOS process and how to address each aspect at the proper design step starting with the layout of standard cells and how to yield-grade libraries for critical area and lithography artifacts through place and route, CMP model based simulation and dummy-fill insertion, and through statistical timing closure of the design. It alerts the designer to the pitfalls to watch for and to the good practices that can enhance a design's manufacturability and yield. A must read book for the serious designer.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 288 pp. Englisch.
