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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Libro 5 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 14,25
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS (Integrated Circuits and Systems)
Libro 5 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: BOOKWEST, Phoenix, AZ, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 17,52
Envío por EUR 4,30
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS (Integrated Circuits and Systems)
Libro 5 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: Goodwill of Silicon Valley, SAN JOSE, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 20,74
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Design For Manufacturability And Yield For Nano-scale Cmos
Libro 5 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 75,76
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS (Integrated Circuits and Systems)
Libro 5 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: BOOKWEST, Phoenix, AZ, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 88,65
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Design for Manufacturability And Yield for Nano-Scale Cmos
Libro 5 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 122,48
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS (Integrated Circuits and Systems)
Libro 5 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 114,49
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Design for Manufacturability And Yield for Nano-Scale Cmos
Libro 5 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 129,86
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Design for Manufacturability And Yield for Nano-Scale Cmos
Libro 5 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 114,48
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS (Integrated Circuits and Systems)
Libro 5 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 126,60
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Design for Manufacturability And Yield for Nano-Scale Cmos
Libro 5 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 128,03
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Libro 5 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 143,11
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 288.
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Libro 5 de 34: Integrated Circuits and SystemsIdioma: Inglés
Publicado por Springer Netherlands, Springer, 2010
ISBN 10: 9048173035 ISBN 13: 9789048173037
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 112,77
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS walks the reader through all the aspects of manufacturability and yield in a nano-CMOS process and how to address each aspect at the proper design step starting with the design and layout of standard cells and how to yield-grade libraries for critical area and lithography artifacts through place and route, CMP model based simulation and dummy-fill insertion, mask planning, simulation and manufacturing, and through statistical design and statistical timing closure of the design. It alerts the designer to the pitfalls to watch for and to the good practices that can enhance a design's manufacturability and yield. This book is a must read book the serious practicing IC designer and an excellent primer for any graduate student intent on having a career in IC design or in EDA tool development.
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Libro 5 de 34: Integrated Circuits and SystemsIdioma: Inglés
Publicado por Springer, Springer Netherlands, 2007
ISBN 10: 1402051875 ISBN 13: 9781402051876
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 114,36
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS walks the reader through all the aspects of manufacturability and yield in a nano-CMOS process and how to address each aspect at the proper design step starting with the design and layout of standard cells and how to yield-grade libraries for critical area and lithography artifacts through place and route, CMP model based simulation and dummy-fill insertion, mask planning, simulation and manufacturing, and through statistical design and statistical timing closure of the design. It alerts the designer to the pitfalls to watch for and to the good practices that can enhance a design's manufacturability and yield. This book is a must read book the serious practicing IC designer and an excellent primer for any graduate student intent on having a career in IC design or in EDA tool development.
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS (Integrated Circuits and Systems)
Libro 5 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 175,05
Envío por EUR 28,90
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Libro 5 de 34: Integrated Circuits and SystemsIdioma: Inglés
Publicado por Springer Netherlands Nov 2010, 2010
ISBN 10: 9048173035 ISBN 13: 9789048173037
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,99
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book walks the reader through all the aspects of manufacturability and yield in a nano-CMOS process. It covers all CAD/CAE aspects of a SOC design flow and addresses a new topic (DFM/DFY) critical at 90 nm and beyond. This book is a must read book the serious practicing IC designer and an excellent primer for any graduate student intent on having a career in IC design or in EDA tool development. 288 pp. Englisch.
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Libro 5 de 34: Integrated Circuits and SystemsIdioma: Inglés
Publicado por Springer Netherlands Jul 2007, 2007
ISBN 10: 1402051875 ISBN 13: 9781402051876
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,99
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Libro 5 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 136,59
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 288 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Libro 5 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 92,27
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoKartoniert / Broschiert. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Addressing a new topic (DFM/DFY) critical at 90 nm and beyondNo book available today with comprehensive coverage of this topicBook covers all CAD/CAE aspects of a SOC design flowDr. Charles Chiang is R&D Director of the Advanced.
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Libro 5 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 92,27
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Addressing a new topic (DFM/DFY) critical at 90 nm and beyondNo book available today with comprehensive coverage of this topicBook covers all CAD/CAE aspects of a SOC design flowDr. Charles Chiang is R&D Director of the Advanced.
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Libro 5 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 149,33
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND pp. 288.
