9781402032073 - introduction to advanced system-on-chip test design and optimization: 29 (frontiers in electronic testing, 29) de larsson, erik (12 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2005
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 7 de 40. Libro 7 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
Librería: books4less (Versandantiquariat Petra Gros GmbH & Co. KG), Welling, Alemaniabooks4less (Versandantiquariat Petra Gros GmbH & Co. KG)
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gebundene Ausgabe. Condición: Gut. 388 Seiten; Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten wissenschaftlichen Bibliothek und trägt die entsprechenden Kennzeichnungen (Rückenschild, Instituts-Stempel.); Schnitt und Einband sind etwas staubschmutzig; der Buchzustand ist ansonsten ordentlich und dem Alter entsprechend… gut. Text in ENGLISCHER Sprache! Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 860.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer-Verlag, Netherlands, 2005
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 7 de 40. Libro 7 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
- Primera edición
Librería: J. W. Mah, Burnaby, BC, CanadaJ. W. Mah
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Hardcover. Condición: Near Fine. Estado de la sobrecubierta: No Dust Jacket as Published. 1st. (NETH) Presumed 1st edition Ownership stamp to top edge of pages, small ownerhsip label to the back of the cover, no other markings, Near Fine; no dust jacket as published. Hardcover, 388pp, index, diagrams. This book gives an introduc…tion to testing, describes the problems related to SOC testing, discusses the modeling granularity and the implementation into EDA (electronic design automation) tools. The book is divided into three sections: i) test concepts, ii) SOC design for test, and iii) SOC test applications. The first part covers an introduction into test problems including faults, fault types, design-flow, design-for-test techniques such as scan-testing and Boundary Scan. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling. Finally, the third part focuses on SOC applications, such as integrated test scheduling and TAM design, defect-oriented scheduling, and integrating test design with the core selection process. (2.5 JM 0426 LVR Size: 8vo - over 7¾" - 9¾".
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2005
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 7 de 40. Libro 7 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2005
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 7 de 40. Libro 7 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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Condición: New. pp. 412.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer US, Springer US, 2005
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 7 de 40. Libro 7 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. It gives an introduction to testing, describes the problems related to SOC testing, discusses the modeling granularity and the imple…mentation into EDA (electronic design automation) tools. The book is divided into three sections: i) test concepts, ii) SOC design for test, and iii) SOC test applications. The first part covers an introduction into test problems including faults, fault types, design-flow, design-for-test techniques such as scan-testing and Boundary Scan. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling. Finally, the third part focuses on SOC applications, such as integrated test scheduling and TAM design, defect-oriented scheduling, and integrating test design with the core selection process.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2005
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 7 de 40. Libro 7 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2005
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 7 de 40. Libro 7 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Condición: Brand New. New. US edition. Print on demand title. Delivery takes 20-25 days.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer US Nov 2005, 2005
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 7 de 40. Libro 7 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. It gives an introduction to testing, describes the problems related to SOC testing, discusses the modeling granulari…ty and the implementation into EDA (electronic design automation) tools. The book is divided into three sections: i) test concepts, ii) SOC design for test, and iii) SOC test applications. The first part covers an introduction into test problems including faults, fault types, design-flow, design-for-test techniques such as scan-testing and Boundary Scan. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling. Finally, the third part focuses on SOC applications, such as integrated test scheduling and TAM design, defect-oriented scheduling, and integrating test design with the core selection process. 408 pp. Englisch.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer US, 2005
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 7 de 40. Libro 7 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Gebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. System perspective to SOC test design. Overview of test problems and their modelingTest scheduling overview, extensive reference list Applicable for Master students and PhD-students working in the test field…. Could also be good for research.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer US, Copernicus Nov 2005, 2005
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 7 de 40. Libro 7 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemaniabuchversandmimpf2000
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. It gives an introduction to testing, describes the problems related to SOC testing, discusses the modeling granularity a…nd the implementation into EDA (electronic design automation) tools. The book is divided into three sections: i) test concepts, ii) SOC design for test, and iii) SOC test applications. The first part covers an introduction into test problems including faults, fault types, design-flow, design-for-test techniques such as scan-testing and Boundary Scan. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling. Finally, the third part focuses on SOC applications, such as integrated test scheduling and TAM design, defect-oriented scheduling, and integrating test design with the core selection process.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 408 pp. Englisch.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2005
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 7 de 40. Libro 7 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Condición: New. Print on Demand pp. 412 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2005
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 7 de 40. Libro 7 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Condición: New. PRINT ON DEMAND pp. 412.
