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9781288910939 - Updated Electronic Testbed System de Brewer, Kevin L. (13 resultados)
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Updated Electronic Testbed System
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 13,52
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Updated Electronic Testbed System (Paperback or Softback)
Idioma: Inglés
Publicado por Biblioscholar 3/12/2013, 2013
ISBN 10: 1288910932 ISBN 13: 9781288910939
Librería: BargainBookStores, Grand Rapids, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 15,86
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoPaperback or Softback. Condición: New. Updated Electronic Testbed System. Book.
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Updated Electronic Testbed System
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 13,96
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Updated Electronic Testbed System
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 15,63
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Updated Electronic Testbed System
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 20,36
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
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Updated Electronic Testbed System
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 15,53
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Updated Electronic Testbed System
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 18,04
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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UPDATED ELECTRONIC TESTBED SYS
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 17,02
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoKartoniert / Broschiert. Condición: New.
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Updated Electronic Testbed System
Idioma: Inglés
Publicado por British Library, Historical Print Editions, 2013
ISBN 10: 1288910932 ISBN 13: 9781288910939
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 17,37
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Añadir al carritoPAP. Condición: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Updated Electronic Testbed System
Idioma: Inglés
Publicado por Biblioscholar Mär 2013, 2013
ISBN 10: 1288910932 ISBN 13: 9781288910939
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 19,78
Envío por EUR 60,32
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Neuware - As we continue to advance in exploring space frontiers, technology must also advance. The need for faster data recovery and data processing is crucial. In this, the less equipment used, and lighter that equipment is, the better. Because integrated circuits become more sensitive in high altitude, experimental verification and quantification is required. The Center for Applied Radiation Research (CARR) at Prairie View A&M University was awarded a grant by NASA to participate in the NASA ER-2 Flight Program, the APEX balloon flight program, and the Student Launch Program. These programs are to test anomalous errors in integrated circuits due to single event effects (SEE). CARR had already begun experiments characterizing the SEE behavior of high speed and high density SRAM's. The research center built a error testing system using a PC-104 computer unit, an Iomega Zip drive for storage, a test board with the components under test, and a latchup detection and reset unit. A test program was written to continuously monitor a stored data pattern in the SRAM chip and record errors. The devices under test were eight 4Mbit memory chips totaling 4Mbytes of memory. CARR was successful at obtaining data using the Electronic TestBed System (EBS) in various NASA ER-2 test flights. These series of high altitude flights of up to 70,000 feet, were effective at yielding the conditions which single event effects usually occur. However, the data received from the series of flights indicated one error per twenty-four hours. Because flight test time is very expensive, the initial design proved not to be cost effective. The need for orders of magnitude with more memory became essential. Therefore, a project which could test more memory within a given time was created. The goal of this project was not only to test more memory within a given time, but also to have a system with a faster processing speed, and which used less peripherals.
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Updated Electronic Testbed System
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 16,34
Envío por EUR 3,82
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoPAP. Condición: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Updated Electronic Testbed System
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 19,53
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 24.
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Updated Electronic Testbed System
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 25,05
Envío por EUR 3,43
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 24.
