Importe total (1 artículo artículos):
Destino del pedido:
9781286862377 - Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy de Ness, Stanley J. (14 resultados)
Ir a los resultados principales
Filtros de búsqueda
Tipo de artículo
- Todos los tipos de productos
- Libros (14)
- Revistas y publicaciones (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Cómics (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Partituras (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Arte, grabados y pósters (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Fotografías (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Mapas (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Manuscritos y coleccionismo de papel (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
Condición Más información
- Nuevo (11)
- Como nuevo, Excelente o Muy bueno (3)
- Bueno o Aceptable (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Regular o Pobre (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Tal como se indica (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
Encuadernación
- Todas
- Tapa dura (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Tapa blanda (14)
Más atributos
- Primera edición (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Firmado (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Sobrecubierta (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Con imágenes (7)
- No impresión bajo demanda (9)
Idioma (1)
Gastos de envío gratis
Ubicación del vendedor
Valoración de los vendedores
-
Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 17,00
Envío por EUR 2,27
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
-
Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy (Paperback or Softback)
Idioma: Inglés
Publicado por Biblioscholar 10/26/2012, 2012
ISBN 10: 128686237X ISBN 13: 9781286862377
Librería: BargainBookStores, Grand Rapids, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 19,34
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoPaperback or Softback. Condición: New. Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy. Book.
-
Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 19,52
Envío por EUR 13,89
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
-
Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 18,73
Envío por EUR 17,40
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
-
Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 21,57
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. KlappentextrnrnDuring the fabrication of Micro-Electro-Mechanical Systems (MEMS), residual stress is often induced in the thin films that are deposited to create these systems. These stresses can cause the device to fail due to buckling, curling.
-
Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Creative Media Partners, LLC Okt 2012, 2012
ISBN 10: 128686237X ISBN 13: 9781286862377
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 25,38
Envío por EUR 60,89
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Neuware - During the fabrication of Micro-Electro-Mechanical Systems (MEMS), residual stress is often induced in the thin films that are deposited to create these systems. These stresses can cause the device to fail due to buckling, curling, or fracture. Government and industry are looking for ways to characterize the stress during the deposition of thin films in order to reduce or eliminate device failure. Micro-Raman spectroscopy has been successfully used to analyze poly-silicon MEMS devices made with the Multi-User MEMS Process (MUMPS). Micro-Raman spectroscopy was selected because it is nondestructive, fast and has the potential for in situ stress monitoring. This research attempts to validate the use of Raman spectroscopy to analyze the stress in MEMS made of silicon carbide (SiC) using the Multi-User Silicon Carbide surface micromachining (MUSiC) process. Surface interferometry of fixed-fixed beam arrays and comb drive resonance test are employed to determine stress and compare it to the Raman values. Research also includes baseline spectra of 6H, 4H, and 15R poly-types of bulk SiC. Raman spectra of 1- to 2-µm thick 3C-SiC thin films deposited on silicon, silicon nitride, and silicon oxide substrates are presented as an attempt to establish a baseline spectra for 3C-SiC, the poly-type of SiC found in MEMS made with the MUSiC process.
-
Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Creative Media Partners, LLC, 2012
ISBN 10: 128686237X ISBN 13: 9781286862377
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 20,49
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoPAP. Condición: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
-
Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 18,74
Envío por EUR 4,82
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoPAP. Condición: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
-
Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 111,09
Envío por EUR 17,40
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
-
Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 101,54
Envío por EUR 29,00
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritopaperback. Condición: Like New. Like New. book.
-
Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 131,11
Envío por EUR 2,27
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
-
Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 26,04
Envío por EUR 7,54
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 122.
-
Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 31,97
Envío por EUR 3,43
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 122.
-
Stress Analysis of Silicon Carbide Microelectromechanical Systems Using Raman Spectroscopy
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 26,77
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND pp. 122.
