9781249594987 - characterization and measurement of passive and active metamaterial devices de lundell, christopher a. (15 resultados)
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Taschenbuch. Condición: Neu. Neuware - This document addresses two major obstacles facing metamaterial development: uncertainty in the characterization of electromagnetic field behavior in metamaterial structures and the relatively small operational bandwidth of metamaterial structures. To address the first obstacle, a new metho…d to characterize electromagnetic field behavior in a metamaterial is presented. This new method is a bistatic radar cross section (RCS) measurement technique. RCS measurements are well-suited to measuring bulk metamaterial samples because they show frequency dependence of scattering angles and offer common postprocessing techniques that can be useful for visualizing results.
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