9780792393061 - integrated circuit defect-sensitivity: theory and computational models: 208 (the springer international series in engineering and computer science, 208) de pineda de gyvez, jose (17 resultados)
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Gebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. The history of this book begins way back in 1982. At that time a research proposal was filed with the Dutch Foundation for Fundamental Research on Matter concerning research to model defects in the layer str…ucture of integrated circuits. It was projected th.
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