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9780792393061 - Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models: 208 (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 208) de Pineda D... (17 resultados)
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 208)
Librería: thebookforest.com, San Rafael, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 208)
Librería: BOOKWEST, Phoenix, AZ, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity Theory And Computational Models
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 208)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity : Theory and Computational Models
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 130,98
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity : Theory and Computational Models
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 115,23
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 196.
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
Idioma: Inglés
Publicado por Kluwer Academic Publishers, 1992
ISBN 10: 0792393066 ISBN 13: 9780792393061
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 132,95
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Añadir al carritoCondición: New. Spot defects are random phenomena present in every fabrication line. As technological processes mature towards submicron features, the effect of these defects on the functional and parametric behavior of the IC becomes crucial. This title reviews the importance of a defect-sensitivity analysis in contemporary VLSI design procedures. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 167 pages, 48 black & white illustrations, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 12. Weight in Grams: 1000. . 1992. Hardback. . . . .
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity : Theory and Computational Models
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 148,67
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity:: Theory and Computational Models (The International Series in Engineering and Computer Science)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 139,17
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity : Theory and Computational Models
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 171,75
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
Idioma: Inglés
Publicado por Kluwer Academic Publishers, 1992
ISBN 10: 0792393066 ISBN 13: 9780792393061
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 165,45
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Spot defects are random phenomena present in every fabrication line. As technological processes mature towards submicron features, the effect of these defects on the functional and parametric behavior of the IC becomes crucial. This title reviews the importance of a defect-sensitivity analysis in contemporary VLSI design procedures. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 167 pages, 48 black & white illustrations, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 12. Weight in Grams: 1000. . 1992. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 127,84
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Añadir al carritoGebunden. Condición: New. The history of this book begins way back in 1982. At that time a research proposal was filed with the Dutch Foundation for Fundamental Research on Matter concerning research to model defects in the layer structure of integrated circuits. It was projected th.
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 158,88
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - The history of this book begins way back in 1982. At that time a research proposal was filed with the Dutch Foundation for Fundamental Research on Matter concerning research to model defects in the layer structure of integrated circuits. It was projected that the results may be useful for yield estimates, fault statistics and for the design of fault tolerant structures. The reviewers were not in favor of this proposal and it disappeared in the drawers. Shortly afterwards some microelectronics industries realized that their survival may depend on a better integration between technology-and design-laboratories. For years the 'silicon foundry' concept had suggested a fairly rigorous separation between the two areas. The expectation was that many small design companies would share the investment into the extremely costful Silicon fabrication plants while designing large lots of application-specific integrated circuits (ASIC's). Those fabrication plants would be concentrated with only a few market leaders.
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 147,09
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Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 196 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 148,29
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND pp. 196.
