9780792386865 - analog and mixed-signal boundary-scan: a guide to the ieee 1149.4 test standard: 16 (frontiers in electronic testing, 16) (15 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1999
- Tapa dura
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de AmericaHPB-Red
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Hardcover. Condición: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1999
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1999
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1999
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Idioma: Inglés
Editorial: Kluwer Academic, 1999
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Condición: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Clean from markings. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,500grams, ISBN:9780792386865.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1999
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Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 165,92
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Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1999
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Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1999
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Kluwer Academic Publishers, 1999
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Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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Condición: New. The Mixed-Signal Boundary-Scan Test Bus is the natural complement to the widely used Boundary-Scan IEEE Standard 1149.1, commonly known as JTAG. This title presents a comprehensive treatment of the design, application and structure of the IEEE 1149.4. It is suitable for researchers and professionals who need to u…nderstand IEEE Standard 1149.4. Editor(s): Osseiran, Adam. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 174 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 426. . 1999. Hardback. . . . .
Idioma: Inglés
Editorial: Springer US, 1999
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Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
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EUR 180,97
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Gebunden. Condición: New. Adam Osseiran is Professor of Electrical Engineering at the Engineering Institute of Geneva, Switzerland and the European Design and Test Specialist at Fluence Technology Inc., Beaverton, Oregon, USA. He is the present Chair of the IEEE 1149.4 Work.
Idioma: Inglés
Editorial: Kluwer Academic Pub, 1999
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Hardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 155 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1999
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1999
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Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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EUR 223,88
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Hardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Idioma: Inglés
Editorial: Kluwer Academic Publishers, 1999
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Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de AmericaKennys Bookstore
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EUR 248,98
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Condición: New. The Mixed-Signal Boundary-Scan Test Bus is the natural complement to the widely used Boundary-Scan IEEE Standard 1149.1, commonly known as JTAG. This title presents a comprehensive treatment of the design, application and structure of the IEEE 1149.4. It is suitable for researchers and professionals who need to u…nderstand IEEE Standard 1149.4. Editor(s): Osseiran, Adam. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 174 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 426. . 1999. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1999
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