9780792386865 - analog and mixed-signal boundary-scan: a guide to the ieee 1149.4 test standard: 16 (frontiers in electronic testing, 16) (15 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 35 de 40. Libro 35 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 35 de 40. Libro 35 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 35 de 40. Libro 35 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
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Idioma: Inglés
Editorial: Kluwer Academic 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 35 de 40. Libro 35 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 35 de 40. Libro 35 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 35 de 40. Libro 35 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 35 de 40. Libro 35 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Kluwer Academic Publishers 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 35 de 40. Libro 35 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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Condición: New. The Mixed-Signal Boundary-Scan Test Bus is the natural complement to the widely used Boundary-Scan IEEE Standard 1149.1, commonly known as JTAG. This title presents a comprehensive treatment of the design, application and structure of the IEEE 1149.4. It is suitable for researchers and professionals who need to u…nderstand IEEE Standard 1149.4. Editor(s): Osseiran, Adam. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 174 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 426. . 1999. Hardback. . . . .
Idioma: Inglés
Editorial: Springer US 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 35 de 40. Libro 35 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Librería: moluna, Greven, , Alemaniamoluna
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Gebunden. Condición: New. Adam Osseiran is Professor of Electrical Engineering at the Engineering Institute of Geneva, Switzerland and the European Design and Test Specialist at Fluence Technology Inc., Beaverton, Oregon, USA. He is the present Chair of the IEEE 1149.4 Work.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 1999
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 35 de 40. Libro 35 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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Hardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Idioma: Inglés
Editorial: Kluwer Academic Pub 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 35 de 40. Libro 35 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Hardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 155 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 1999
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Idioma: Inglés
Editorial: Kluwer Academic Publishers 1999
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Condición: New. The Mixed-Signal Boundary-Scan Test Bus is the natural complement to the widely used Boundary-Scan IEEE Standard 1149.1, commonly known as JTAG. This title presents a comprehensive treatment of the design, application and structure of the IEEE 1149.4. It is suitable for researchers and professionals who need to u…nderstand IEEE Standard 1149.4. Editor(s): Osseiran, Adam. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 174 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 426. . 1999. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Us Okt 1999 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 35 de 40. Libro 35 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Buch. Condición: Neu. Neuware - This book contains more than the IEEE Standard 1149.4. It also contains the thoughts of those who developed the standard. Adam Osseiran has edited the original writings of Brian Wilkins, Colin Maunder, Rod Tulloss, Steve Sunter, Mani Soma, Keith Lofstrom and John McDermid, all of whom have persona…lly contributed to this standard. To preserve the original spirit, only minor changes were made, and the reader will sense a chapter-to-chapter variation in the style of expression. This may appear awkward to some, although I found the Iack of monotonicity refreshing. A system consists of a specific organization of parts. The function of the system cannot be performed by an individual part or even a disorganized collection ofthe same parts. Testing has a system-like characteristic. Testing of a system does not follow directly from the testing of its parts, and a system built with testable parts can sometimes be impossible to test. Therefore, testability of the system must be organized. Some years ago, the IEEE published the boundary-scan Standard 1149.1. That Standard provided an architecture for digital VLSI chips. The chips designed with the 1149.1 architecture can be integrated into a testable system. However, many systems today contain both analog and digital chips. Even if all digital chips are compliant with the standard, the testability of a mixed-signal system cannot be guaranteed. The new Standard 1149.4, described in this book, extends the previous architecture to mixed-signal systems.
