9780521336178 - modeling and characterization of rf and microwave power fets (the cambridge rf and microwave engineering series) de aaen, peter h. (23 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Cambridge University Press 2011
Serie: Cambridge RF and Microwave Engineering, Libro 1 de 20. Libro 1 de 20 - Cambridge RF and Microwave Engineering
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Idioma: Inglés
Editorial: Cambridge University Press 2011
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Editorial: Cambridge University Press 2011
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Editorial: Cambridge University Press 2011
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Editorial: Cambridge University Press 2011
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Editorial: Cambridge University Press 2011-06-30 2011
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Editorial: Cambridge University Press 2011
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Editorial: Cambridge University Press 2011
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Condición: New. This book was the first to be devoted to the compact modeling of RF power FETs. Series: The Cambridge RF and Microwave Engineering Series. Num Pages: 380 pages, black & white illustrations. BIC Classification: TJFD5; TJFN. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 245 x 171 x 21. Weight in Grams: 634. .… 2011. 1st Edition. paperback. . . . .
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Editorial: Cambridge University Press, GB 2011
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Paperback. Condición: New. This book is a comprehensive exposition of FET modeling, and is a must-have resource for seasoned professionals and new graduates in the RF and microwave power amplifier design and modeling community. In it, you will find descriptions of characterization and measurement techniques, analysis methods, an…d the simulator implementation, model verification and validation procedures that are needed to produce a transistor model that can be used with confidence by the circuit designer. Written by semiconductor industry professionals with many years' device modeling experience in LDMOS and III-V technologies, this was the first book to address the modeling requirements specific to high-power RF transistors. A technology-independent approach is described, addressing thermal effects, scaling issues, nonlinear modeling, and in-package matching networks. These are illustrated using the current market-leading high-power RF technology, LDMOS, as well as with III-V power devices.
Idioma: Inglés
Editorial: Cambridge University Press 2011
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Idioma: Inglés
Editorial: Cambridge University Press CUP 2011
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Editorial: Cambridge University Press 2011
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Condición: New. This book was the first to be devoted to the compact modeling of RF power FETs. Series: The Cambridge RF and Microwave Engineering Series. Num Pages: 380 pages, black & white illustrations. BIC Classification: TJFD5; TJFN. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 245 x 171 x 21. Weight in Grams: 634. .… 2011. 1st Edition. paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Editorial: Cambridge University Press, GB 2011
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Paperback. Condición: New. This book is a comprehensive exposition of FET modeling, and is a must-have resource for seasoned professionals and new graduates in the RF and microwave power amplifier design and modeling community. In it, you will find descriptions of characterization and measurement techniques, analysis methods, an…d the simulator implementation, model verification and validation procedures that are needed to produce a transistor model that can be used with confidence by the circuit designer. Written by semiconductor industry professionals with many years' device modeling experience in LDMOS and III-V technologies, this was the first book to address the modeling requirements specific to high-power RF transistors. A technology-independent approach is described, addressing thermal effects, scaling issues, nonlinear modeling, and in-package matching networks. These are illustrated using the current market-leading high-power RF technology, LDMOS, as well as with III-V power devices.
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Editorial: Cambridge University Press, Cambridge 2011
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Paperback. Condición: new. Paperback. This book is a comprehensive exposition of FET modeling, and is a must-have resource for seasoned professionals and new graduates in the RF and microwave power amplifier design and modeling community. In it, you will find descriptions of characterization and measurement techniques, analysis…methods, and the simulator implementation, model verification and validation procedures that are needed to produce a transistor model that can be used with confidence by the circuit designer. Written by semiconductor industry professionals with many years' device modeling experience in LDMOS and III-V technologies, this was the first book to address the modeling requirements specific to high-power RF transistors. A technology-independent approach is described, addressing thermal effects, scaling issues, nonlinear modeling, and in-package matching networks. These are illustrated using the current market-leading high-power RF technology, LDMOS, as well as with III-V power devices. This book was the first to be devoted to the compact modeling of RF power FETs. In it, you will find the techniques, verification and validation procedures required to produce a transistor model. The text also contains real-world examples. This item is printed on demand. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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Taschenbuch. Condición: Neu. Modeling and Characterization of RF and Microwave Power Fets | Peter Aaen (u. a.) | Taschenbuch | Kartoniert / Broschiert | Englisch | 2011 | Cambridge University Press | EAN 9780521336178 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbie…ter: preigu Print on Demand.
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