9780471584896 - electromigration de christou (18 resultados)

- Tapa dura
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino UnidoPBShop.store UK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 221,55
Envío por EUR 6,85Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
HRD. Condición: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.

- Tapa dura
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 218,55
Envío por EUR 6,80Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: new.

- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 234,02
Envío por EUR 2,29Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 221,54
Envío por EUR 17,50Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 237,17
Envío por EUR 13,98Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.

- Tapa dura
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 260,47
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

- Tapa dura
Librería: agoodealofbooks, Ypsilanti, MI, Estados Unidos de Americaagoodealofbooks
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Usado - Bueno
EUR 276,48
Envío por EUR 4,34Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
hardcover. Condición: Very Good. very clean Wiley hardcover no jacket. no marks. clean text. solid binding. very light wear. ISBN matches listing Fast service with confirmation, no international or priority orders over 4lbs.

- Tapa dura
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 293,90
Envío por EUR 7,58Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Condición: New. pp. 344.

- Tapa dura
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 306,98
Envío por EUR 3,47Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Condición: New. pp. 344.

- Tapa dura
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 257,59
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. This study reviews an important reliability issue for both silicon and GaAs technologies. It surveys the status of electromigration physics in microelectronics, and summarizes various rate controlling details.Über den AutorAr.

- Tapa dura
- Primera edición
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 297,41
Envío por EUR 9,50Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. This study reviews an important reliability issue for both silicon and GaAs technologies. It surveys the status of electromigration physics in microelectronics, and summarizes various rate controlling details. Editor(s): Christou, Aris. Num Pages: 344 pages, black & white illustrations. BIC Classification: PHK; T…GPR; TJK; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 236 x 165 x 26. Weight in Grams: 682. . 1993. 1st Edition. Hardcover. . . . .

- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 318,48
Envío por EUR 17,50Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

- Tapa dura
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 308,88
Envío por EUR 29,17Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Hardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.

- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 345,82
Envío por EUR 2,29Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

- Tapa dura
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 342,22
Envío por EUR 14,59Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Hardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 343 pages. 9.75x6.50x0.75 inches. In Stock.

- Tapa dura
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de AmericaKennys Bookstore
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 377,31
Envío por EUR 9,12Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. This study reviews an important reliability issue for both silicon and GaAs technologies. It surveys the status of electromigration physics in microelectronics, and summarizes various rate controlling details. Editor(s): Christou, Aris. Num Pages: 344 pages, black & white illustrations. BIC Classification: PHK; T…GPR; TJK; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 236 x 165 x 26. Weight in Grams: 682. . 1993. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.

- Tapa dura
- Primera edición
- Impresión bajo demanda
Librería: CitiRetail, Stevenage, Reino UnidoCitiRetail
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 252,38
Envío por EUR 43,17Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Hardcover. Condición: new. Hardcover. Addresses electromigration failure modes in electronics covering both theory and experiments. Reviews silicon and GaAs technologies. Various rate controlling details are summarized including an investigation of temperature dependence. Concludes with a discussion regarding current status and…future plans for electromigration resistant advanced metallization systems for VLSI. This study reviews an important reliability issue for both silicon and GaAs technologies. It surveys the status of electromigration physics in microelectronics, and summarizes various rate controlling details. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.

- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 319,79
Envío por EUR 14,59Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Hardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 343 pages. 9.75x6.50x0.75 inches. In Stock. This item is printed on demand.