9780471584896 - electromigration de christou (18 resultados)

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    Editorial: Wiley, 1994

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Wiley-Interscience, 1993

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    Editorial: Wiley-Interscience, 1993

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    Editorial: Wiley-Interscience, 1993

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: John Wiley & Sons, 1993

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    Editorial: John Wiley & Sons, 1993

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    Editorial: John Wiley & Sons, 1994

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    Condición: New. This study reviews an important reliability issue for both silicon and GaAs technologies. It surveys the status of electromigration physics in microelectronics, and summarizes various rate controlling details.&Uumlber den AutorAr.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: John Wiley & Sons Inc, 1993

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    • Primera edición

    Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.

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    Condición: New. This study reviews an important reliability issue for both silicon and GaAs technologies. It surveys the status of electromigration physics in microelectronics, and summarizes various rate controlling details. Editor(s): Christou, Aris. Num Pages: 344 pages, black & white illustrations. BIC Classification: PHK; T

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Wiley-Interscience, 1993

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    Condición: As New. Unread book in perfect condition.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Wiley-Interscience, 1993

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    Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Wiley-Interscience, 1993

    0471584894 / 9780471584896

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    Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Wiley-Interscience, 1994

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    Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books

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    Hardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 343 pages. 9.75x6.50x0.75 inches. In Stock.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: John Wiley & Sons Inc, 1993

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    Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de AmericaKennys Bookstore

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    Condición: New. This study reviews an important reliability issue for both silicon and GaAs technologies. It surveys the status of electromigration physics in microelectronics, and summarizes various rate controlling details. Editor(s): Christou, Aris. Num Pages: 344 pages, black & white illustrations. BIC Classification: PHK; T

  • Idioma: Inglés

    Editorial: John Wiley & Sons Inc, New York, 1994

    0471584894 / 9780471584896

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    • Primera edición
    • Impresión bajo demanda

    Librería: CitiRetail, Stevenage, Reino UnidoCitiRetail

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    Hardcover. Condición: new. Hardcover. Addresses electromigration failure modes in electronics covering both theory and experiments. Reviews silicon and GaAs technologies. Various rate controlling details are summarized including an investigation of temperature dependence. Concludes with a discussion regarding current status and

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Wiley-Interscience, 1994

    0471584894 / 9780471584896

    • Tapa dura
    • Impresión bajo demanda

    Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books

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