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9780443341892 - Fundamentals of Microstructural Characterization of Materials de Garmestani (15 resultados)
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Fundamentals of Microstructural Characterization of Materials
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
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Fundamentals of Microstructural Characterization of Materials
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Fundamentals of Microstructural Characterization of Materials
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
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Fundamentals of Microstructural Characterization of Materials
Idioma: Inglés
Publicado por Elsevier - Health Sciences Division, 2025
ISBN 10: 0443341893 ISBN 13: 9780443341892
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
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Fundamentals of Microstructural Characterization of Materials
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Fundamentals of Microstructural Characterization of Materials
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
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Fundamentals of Microstructural Characterization of Materials
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Fundamentals of Microstructural Characterization of Materials
Librería: moluna, Greven, Alemania
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Añadir al carritoCondición: New. Covers a wide range of concepts and techniques for the accurate characterization of the microstructure of a variety of materials, including metals, ceramics, and polymersOutlines spectroscopic, scanning electron microscope, X-ray diffractio.
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Fundamentals of Microstructural Characterization of Materials
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
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Fundamentals of Microstructural Characterization of Materials
Idioma: Inglés
Publicado por Elsevier - Health Sciences Division Nov 2025, 2025
ISBN 10: 0443341893 ISBN 13: 9780443341892
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Neuware - Fundamentals of Microstructure Characterization of Materials is an essential resource for understanding the various techniques and methods used in material characterization. This book delves into spectroscopic methods involving electromagnetic radiation, X-ray photoelectron analysis, atomic emission spectroscopy, and more. It provides thorough explanations of scanning electron microscopy and sample preparation techniques, including cutting, grinding, polishing, and etching.Other important points covered in the book include microscopy fundamentals such as lens types, optical image formation principles, depth of field, and depth of focus. Statistical analysis methods, including cumulative distribution function, probability density function, and Gaussian distribution, are also discussed. Additionally, the application of X-ray diffraction in phase analysis of materials is explored in detail.
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Fundamentals of Microstructural Characterization of Materials (Paperback)
Idioma: Inglés
Publicado por Elsevier - Health Sciences Division, Philadelphia, 2025
ISBN 10: 0443341893 ISBN 13: 9780443341892
Librería: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, Estados Unidos de America
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Fundamentals of Microstructural Characterization of Materials
Idioma: Inglés
Publicado por Elsevier - Health Sciences Division, 2025
ISBN 10: 0443341893 ISBN 13: 9780443341892
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
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Fundamentals of Microstructural Characterization of Materials
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
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Fundamentals of Microstructural Characterization of Materials (Paperback)
Idioma: Inglés
Publicado por Elsevier - Health Sciences Division, Philadelphia, 2025
ISBN 10: 0443341893 ISBN 13: 9780443341892
Librería: CitiRetail, Stevenage, Reino Unido
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Añadir al carritoPaperback. Condición: new. Paperback. Fundamentals of Microstructure Characterization of Materials is an essential resource for understanding the various techniques and methods used in material characterization. This book delves into spectroscopic methods involving electromagnetic radiation, X-ray photoelectron analysis, atomic emission spectroscopy, and more. It provides thorough explanations of scanning electron microscopy and sample preparation techniques, including cutting, grinding, polishing, and etching.Other important points covered in the book include microscopy fundamentals such as lens types, optical image formation principles, depth of field, and depth of focus. Statistical analysis methods, including cumulative distribution function, probability density function, and Gaussian distribution, are also discussed. Additionally, the application of X-ray diffraction in phase analysis of materials is explored in detail. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
