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9780387258003 - Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to Tem, Sem, and Aem de Egerton, R.; Egerton, Ray (9 resultados)
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Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 163,59
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Physical Principles of Electron Microscopy : An Introduction To TEM, SEM, And AEM
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 179,93
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Physical Principles of Electron Microscopy : An Introduction To TEM, SEM, And AEM
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 180,33
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Physical Principles of Electron Microscopy : An Introduction To TEM, SEM, And AEM
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 163,57
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Physical Principles of Electron Microscopy : An Introduction To TEM, SEM, And AEM
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 180,82
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Physical Principles of Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Springer-Verlag New York Inc., US, 2005
ISBN 10: 0387258000 ISBN 13: 9780387258003
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 204,81
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoHardback. Condición: New. 1st ed. 2005. Corr. 2nd printing 2011.
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Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to Tem, Sem, and Aem
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 180,46
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Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Introduces the theory and current practice of electron microscopyIdeal for undergraduates and technologists with limited mathematical trainingCovers principles and techniques essential to materials science, the semiconductor industry, nanot.
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Physical Principles of Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Springer-Verlag New York Inc., US, 2005
ISBN 10: 0387258000 ISBN 13: 9780387258003
Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 192,73
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Añadir al carritoHardback. Condición: New. 1st ed. 2005. Corr. 2nd printing 2011.
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Physical Principles of Electron Microscopy : An Introduction to TEM, SEM, and AEM
Idioma: Inglés
Publicado por Springer, Berlin, Springer US, Springer, 2005
ISBN 10: 0387258000 ISBN 13: 9780387258003
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 222,67
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - Scanning and stationary-beam electron microscopes have become an indespensible tool for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences. This book provides an introduction to the theory and current practice of electron microscopy, aimed primarily at undergraduates who need to learn how the basic principles of physics are applied in an important area of science and technology that has contributed greatly to our knowledge of life processes and 'inner space.' However, it will be equally valuable for technologists who make use of electron microscopes and for graduate students, university teachers and researchers who need a concise text that deals with the basic principles of microscopy. Less technical but broader in scope than other microscopy textbooks, Physical Principles of Electron Microscopy is appropriate for undergraduates and technologists with limited mathematical training.
