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9780306458033 - Advances in X-Ray Analysis: Volume 39 de Smith, D. K.; Noyan, I. C.; Huang, T. C. (11 resultados)
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Edición internacionalAdvances In X-Ray Analysis
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 71,02
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Advances In X-Ray Analysis
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 71,02
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Advances In X-Ray Analysis
Librería: SMASS Sellers, IRVING, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 75,71
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Advances In X-Ray Analysis
Librería: SMASS Sellers, IRVING, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
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Advances in X-Ray Analysis
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 79,54
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 932 68:B&W 7 x 10 in or 254 x 178 mm Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Advances in X-Ray Analysis
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 87,97
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 932.
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Advances in X-Ray Analysis
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 81,39
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 932.
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Edición internacional
ADVANCES IN X-RAY ANALYSIS
Librería: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 98,04
Envío por EUR 6,94
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 8 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Brand New ! Fast Delivery "International Edition " and ship within 24-48 hours. Deliver by FedEx and Dhl, & Aramex, UPS, & USPS and we do accept APO and PO BOX Addresses. Order can be delivered worldwide within 4-6 Working days .and we do have flat rate for up to 2LB. Extra shipping charges will be requested This Item May be shipped from India, United states & United Kingdom. Depending on your location and availability.
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Advances in X-Ray Analysis: Volume 39
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 310,97
Envío por EUR 13,87
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Advances in X-Ray Analysis: Volume 39
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 338,28
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Proceedings of the Forty-fourth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis held in Colorado, Springs, Colorado, July 31-August 4, 1995 The 39th Denver Conference on Applications of X-ray Analysis was held July 31-August 4, 1995, at the Sherat.
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 39
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 474,63
Envío por EUR 69,07
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - The 39th Denver Conference on Applications of X-ray Analysis was held July 31-August 4, 1995, at the Sheraton Hotel, Colorado Springs, Colorado. The year 1995 was a special year for the X-ray analysis community, since it represented the 100th anniversary ofthe discovery ofX-rays by Wilhelm Roentgen. In commemoration of this event, the Plenary Session of the conference was entitled 'THE ROENTGEN COMMEMORATIVE SESSION:1895-1995, '100 YEARS OF PROGRESS IN X-RA Y SCIENCE AND APPLICATIONS'. It is interesting to note that while we celebrate 100 years ofthe use ofX-ray techniques in general, and about 80 years ofX-ray diffraction and spectroscopy in particular, the Denver X-ray Conference has been in place for about half ofthat time period! Like the X-ray methods it represents, the Denver Conference on Applications ofX-ray Analysis has grown and matured, has survived the rigors oftime, and today, provides the worlds' best annual forum for the exchange of experiences and developments in the various fields ofX-ray analysis. Imagine, when the Denver Conference started in 1951, there were no personal computer- in fact, there were no computers, period! There was no SEM, no microprobe, there were no Si(Li) detectors, no transistors, no synchrotrons, Hugo Rietveld was a child, and many members who regularly attend Denver Meetings today, weren't even born yet! As I write this foreword, a copy of volurne 1 of Advances in X-ray Analysis lays in front of me on my desk.
