9780306458033 - advances in x-ray analysis: volume 39 de smith, d. k.; noyan, i. c.; huang, t. c. (10 resultados)
- Tapa blanda
- Edición internacional
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de AmericaRomtrade Corp.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasEdición internacionalCondición: Nuevo
EUR 100,84
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Condición: New. Brand New. Soft Cover International Edition. Different ISBN and Cover Image. Priced lower than the standard editions which is usually intended to make them more affordable for students abroad. The core content of the book is generally the same as the standard edition. The country selling restrictions may be print…ed on the book but is no problem for the self-use. This Item maybe shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
- Tapa dura
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 100,84
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
- Tapa blanda
Librería: SMASS Sellers, IRVING, TX, Estados Unidos de AmericaSMASS Sellers
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 104,37
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Condición: New. Brand New, Softcover edition. This item may ship from the US or our Overseas warehouse depending on your location and stock availability.
- Tapa dura
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 118,33
Envío por EUR 7,63Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. pp. 932 68:B&W 7 x 10 in or 254 x 178 mm Case Laminate on White w/Gloss Lam.
- Tapa dura
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 122,98
Envío por EUR 3,50Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. pp. 932.
- Tapa dura
Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 119,67
Envío por EUR 9,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. pp. 932.
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 315,09
Envío por EUR 14,06Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
- Tapa dura
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 339,25
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Gebunden. Condición: New. Proceedings of the Forty-fourth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis held in Colorado, Springs, Colorado, July 31-August 4, 1995 The 39th Denver Conference on Applications of X-ray Analysis was held July 31-August 4, 1995, at the Sherat.
- Tapa dura
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 420,16
Envío por EUR 69,08Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Buch. Condición: Neu. Neuware - The 39th Denver Conference on Applications of X-ray Analysis was held July 31-August 4, 1995, at the Sheraton Hotel, Colorado Springs, Colorado. The year 1995 was a special year for the X-ray analysis community, since it represented the 100th anniversary ofthe discovery ofX-rays by Wilhelm Roentge…n. In commemoration of this event, the Plenary Session of the conference was entitled 'THE ROENTGEN COMMEMORATIVE SESSION:1895-1995, '100 YEARS OF PROGRESS IN X-RA Y SCIENCE AND APPLICATIONS'. It is interesting to note that while we celebrate 100 years ofthe use ofX-ray techniques in general, and about 80 years ofX-ray diffraction and spectroscopy in particular, the Denver X-ray Conference has been in place for about half ofthat time period! Like the X-ray methods it represents, the Denver Conference on Applications ofX-ray Analysis has grown and matured, has survived the rigors oftime, and today, provides the worlds' best annual forum for the exchange of experiences and developments in the various fields ofX-ray analysis. Imagine, when the Denver Conference started in 1951, there were no personal computer- in fact, there were no computers, period! There was no SEM, no microprobe, there were no Si(Li) detectors, no transistors, no synchrotrons, Hugo Rietveld was a child, and many members who regularly attend Denver Meetings today, weren't even born yet! As I write this foreword, a copy of volurne 1 of Advances in X-ray Analysis lays in front of me on my desk.
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 255,25
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: Brand New. New. US edition. Print on demand title. Delivery takes 20-25 days. Excellent Customer Service.
