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9780262561990 - Logic Testing and Design for Testability (Computer Systems Series) de Fujiwara, Hideo (12 resultados)
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Logic Testing and Design for Testability
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 39,65
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Logic Testing and Design for Testability (Paperback or Softback)
Librería: BargainBookStores, Grand Rapids, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 42,02
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoPaperback or Softback. Condición: New. Logic Testing and Design for Testability. Book.
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Logic Testing and Design for Testability
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 44,92
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Logic Testing and Design for Testability
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 45,92
Envío por EUR 17,19
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Logic Testing and Design for Testability
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 56,75
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 298 pages. 8.90x5.98x0.87 inches. In Stock.
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Logic Testing and Design for Testability
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 51,79
Envío por EUR 17,19
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Logic Testing and Design for Testability (MIT Press Classics)
Idioma: Inglés
Publicado por The MIT Press Bookstore, 1985
ISBN 10: 0262561999 ISBN 13: 9780262561990
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 40,84
Envío por EUR 7,45
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 304.
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Logic Testing and Design for Testability (MIT Press Classics)
Idioma: Inglés
Publicado por The MIT Press Bookstore, 1985
ISBN 10: 0262561999 ISBN 13: 9780262561990
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 46,23
Envío por EUR 3,46
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 304.
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Logic Testing and Design for Testability (MIT Press Classics)
Idioma: Inglés
Publicado por The MIT Press Bookstore, 1985
ISBN 10: 0262561999 ISBN 13: 9780262561990
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 41,11
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND pp. 304.
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LOGIC TESTING & DESIGN FOR TES
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 36,99
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoKartoniert / Broschiert. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. KlappentextDesign for testability techniques offer one approach toward alleviating this situation by adding enough extra circuitry to a circuit or chip to reduce the complexity of testing.
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Logic Testing and Design for Testability
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 45,86
Envío por EUR 62,48
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Design for testability techniques offer one approach toward alleviating this situation by adding enough extra circuitry to a circuit or chip to reduce the complexity of testing.
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Logic Testing and Design for Testability
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 38,45
Envío por EUR 70,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Logic Testing and Design for Testability | Hideo Fujiwara | Taschenbuch | Kartoniert / Broschiert | Englisch | 1985 | MIT Press | EAN 9780262561990 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
