Sinopsis
Design for testability techniques offer one approach toward alleviating this situation by adding enough extra circuitry to a circuit or chip to reduce the complexity of testing.
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Acerca del autor
Hideo Fujiwara is an associate professor in the Department of Electronics and Communication, Meiji University.
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Logic Testing and Design for Testability
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Logic Testing and Design for Testability
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Taschenbuch. Condición: Neu. Logic Testing and Design for Testability | Hideo Fujiwara | Taschenbuch | Kartoniert / Broschiert | Englisch | 1985 | MIT Press | EAN 9780262561990 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand. Nº de ref. del artículo: 106536742
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