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Sinopsis
Design for testability techniques offer one approach toward alleviating this situation by adding enough extra circuitry to a circuit or chip to reduce the complexity of testing.
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Acerca del autor
Hideo Fujiwara is an associate professor in the Department of Electronics and Communication, Meiji University.
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- EditorialMIT Press
- Año de publicación1985
- ISBN 10 0262561999
- ISBN 13 9780262561990
- EncuadernaciónTapa blanda
- IdiomaInglés
- Número de páginas304
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Logic Testing and Design for Testability (Paperback or Softback)
Publicado por
MIT Press 7/31/1985, 1985
ISBN 10: 0262561999
ISBN 13: 9780262561990
Nuevo
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Logic Testing and Design for Testability
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Logic Testing and Design for Testability
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Logic Testing and Design for Testability
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LOGIC TESTING & DESIGN FOR TES
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Logic Testing And Design For Testability
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Logic Testing and Design for Testability
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Logic Testing And Design For Testability
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Logic Testing and Design for Testability
Publicado por
MIT Press, 1985
ISBN 10: 0262561999
ISBN 13: 9780262561990
Antiguo o usado
Tapa blanda
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Logic Testing and Design for Testability
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