Isbn: 9780071753791 - reliability of rohs-compliant 2d and 3d ic interconnects (electronics) (8 resultados)

ISBN
Refinar con la Búsqueda avanzada

Filtrar la búsqueda

  • Libros (8)

a

Intervalo de precios personalizado (EUR)

a

  • Idioma: Inglés

    Editorial: McGraw Hill, 2010

    0071753796 / 9780071753791

    • Tapa dura

    Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de AmericaRomtrade Corp.

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 92,23

     Gastos de envío gratis 
    Se envía dentro de Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 1 disponibles

    Condición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: McGraw Hill, 2010

    0071753796 / 9780071753791

    • Tapa dura

    Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 92,23

     Gastos de envío gratis 
    Se envía dentro de Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 1 disponibles

    Condición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: The McGraw-Hill Company, 2010

    0071753796 / 9780071753791

    • Tapa dura

    Librería: Books Puddle, Woodside, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle

    Vendedor de 4 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Usado

    EUR 123,44

    Envío por EUR 3,49 
    Se envía dentro de Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 1 disponibles

    Condición: Used. pp. 640.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: The McGraw-Hill Company, 2010

    0071753796 / 9780071753791

    • Tapa dura

    Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books

    Vendedor de 4 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Usado

    EUR 124,97

    Envío por EUR 7,58 
    Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 1 disponibles

    Condición: Used. pp. 640.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: The McGraw-Hill Company, 2010

    0071753796 / 9780071753791

    • Tapa dura

    Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios

    Vendedor de 4 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Usado

    EUR 127,50

    Envío por EUR 9,95 
    Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 1 disponibles

    Condición: Used. pp. 640.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: - -, 2010

    0071753796 / 9780071753791

    • Tapa dura

    Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino UnidoChiron Media

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 154,17

    Envío por EUR 18,06 
    Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 20 disponibles

    Hardcover. Condición: New.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: McGraw-Hill Professional, 2011

    0071753796 / 9780071753791

    • Tapa dura

    Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 147,96

    Envío por EUR 48,99 
    Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

    Condición: New. Unique global coverage of RoHS-compliant materials for electronics manufacturing and for packaging assembly and semiconductor integrationProven 2D and 3D IC lead-free interconnect reliability techniquesReliability of RoHS-Compliant 2D and 3D I.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Mcgraw Hill LLC Dez 2010, 2010

    0071753796 / 9780071753791

    • Tapa dura

    Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 282,69

    Envío por EUR 30,50 
    Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 2 disponibles

    Buch. Condición: Neu. Neuware - Proven 2D and 3D IC lead-free interconnect reliability techniquesReliability of RoHS-Compliant 2D and 3D IC Interconnects offers tested solutions to reliability problems in lead-free interconnects for PCB assembly, conventional IC packaging, 3D IC packaging, and 3D IC integration. This authoritative guide presents the latest cutting-edge reliability methods and data for electronic manufacturing services (EMS) on second-level interconnects, packaging assembly on first-level interconnects, and 3D IC integration on microbumps and through-silicon-via (TSV) interposers. Design reliable 2D and 3D IC interconnects in RoHS-compliant projects using the detailed information in this practical resource.Covers reliability of: 2D and 3D IC lead-free interconnectsCCGA, PBGA, WLP, PQFP, flip-chip, lead-free SAC solder jointsLead-free (SACX) solder jointsLow-temperature lead-free (SnBiAg) solder jointsSolder joints with voids, high strain rate, and high ramp rateVCSEL and LED lead-free interconnects3D LED and 3D MEMS with TSVsChip-to-wafer (C2W) bonding and lead-free interconnectsWafer-to-wafer (W2W) bonding and lead-free interconnects3D IC chip stacking with low-temperature bondingTSV interposers and lead-free interconnectsElectromigration of lead-free microbumps for 3D IC integration.