Yi kan cheng (54 resultados)
Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Yi-Kan Cheng; Ching-Han Tsai; Chin-Chi Teng; Sung-Mo (Steve) Kang
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Electrothermal Analysis Of Vlsi Systems
Yi-Kan Cheng; Ching-Han Tsai; Chin-Chi Teng; Sung-Mo (Steve) Kang
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Research Materials (31) [Song Yunbin old things: enlightened bookstore. History the Zhu Xizuo: Xinhua Trust and Savings Bank. Liuwang Li Ming: University of Shanghai Whole Story(Chinese Edition)
CONG CHENG DOU SHANG YE YIN HANG KAN JIE FANG QIAN JIN RONG YE JI XING
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Yi-Kan Cheng, Yi-Kan; Ching-Han Tsai; Chin-Chi Teng; Sung-Mo (Steve) Kang
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Sung-Mo (Steve) Kang Chin-Chi Teng Ching-Han Tsai Yi-Kan Cheng
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Kang Sung-Mo (Steve) Teng Chin-Chi Tsai Ching-Han Cheng Yi-Kan
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Kang Sung-Mo (Steve) Teng Chin-Chi Tsai Ching-Han Cheng Yi-Kan
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Electrothermal Analysis of Vlsi Systems
Cheng, Yi-Kan; Tsai, Ching-Han; Teng, Chin-Chi; Kang, Sung-Mo
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Yi-Kan Cheng; Ching-Han Tsai; Chin-Chi Teng; Sung-Mo (Steve) Kang
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Yi-Kan Cheng, Yi-Kan; Ching-Han Tsai; Chin-Chi Teng; Sung-Mo (Steve) Kang
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Yi-Kan Cheng; Ching-Han Tsai; Chin-Chi Teng; Sung-Mo (Steve) Kang
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Electrothermal Analysis of Vlsi Systems
Cheng, Yi-Kan; Tsai, Ching-Han; Teng, Chin-Chi; Kang, Sung-Mo
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Cheng, Yi-Kan; Tsai, Ching-Han (Coordinated Science Laboratory, University of Illinois, USA); Teng, Chin-Chi (Silicon Perspective Corporation, Santa
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Condición: New. Addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. This book discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration…). Num Pages: 233 pages, 36 black & white illustrations, biography. BIC Classification: TJF; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 234 x 156 x 14. Weight in Grams: 514. . 2000. Hardback. . . . .
Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Sung-Mo (Steve) Kang Chin-Chi Teng Ching-Han Tsai Yi-Kan Cheng
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Yi-Kan Cheng, Sung-Mo (Steve) Kang, Chin-Chi Teng, Ching-Han Tsai
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Condición: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Electrothermal Analysis of VLSI Systems addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. Part I, The Building Blocks, discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power ana…lysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration). Part II, The Applications, discusses three important applications of VLSI electrothermal analysis including temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement and temperature-driven power and timing analysis. Electrothermal Analysis of VLSI Systems will be useful for researchers in the fields of IC reliability analysis and physical design, as well as VLSI designers and graduate students.
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Taschenbuch. Condición: Neu. Electrothermal Analysis of VLSI Systems | Yi-Kan Cheng (u. a.) | Taschenbuch | xxiii | Englisch | 2013 | Humana | EAN 9781475773736 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Cheng, Yi-Kan; Tsai, Ching-Han (Coordinated Science Laboratory, University of Illinois, USA); Teng, Chin-Chi (Silicon Perspective Corporation, Santa
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Condición: New. Addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. This book discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration…). Num Pages: 233 pages, 36 black & white illustrations, biography. BIC Classification: TJF; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 234 x 156 x 14. Weight in Grams: 514. . 2000. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Electrothermal Analysis of VLSI Systems addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. Part I, The Building Blocks, discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including… power analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration). Part II, The Applications, discusses three important applications of VLSI electrothermal analysis including temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement and temperature-driven power and timing analysis. Electrothermal Analysis of VLSI Systems will be useful for researchers in the fields of IC reliability analysis and physical design, as well as VLSI designers and graduate students.
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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Electrothermal Analysis of VLSI Systems addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. Part I, The Building Blocks, discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power…analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration). Part II, The Applications, discusses three important applications of VLSI electrothermal analysis including temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement and temperature-driven power and timing analysis. Electrothermal Analysis of VLSI Systems will be useful for researchers in the fields of IC reliability analysis and physical design, as well as VLSI designers and graduate students.
port engineering load norms partial revision (Part Load Container Terminal)(Chinese Edition)
ZHONG JIAO DI YI HANG WU GONG CHENG KAN CHA SHE JI YUAN YOU XIAN GONG SI BIAN
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Electrothermal Analysis of Vlsi Systems
Cheng, Yi-Kan; Tsai, Ching-Han; Teng, Chin-Chi; Kang, Sung-Mo
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Electrothermal Analysis of Vlsi Systems
Cheng, Yi-Kan; Tsai, Ching-Han; Teng, Chin-Chi; Kang, Sung-Mo
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The Masayoshi Ohira pass a version of a printed 621(Chinese Edition)(Old-Used)
[ RI ] DA PING ZHENG FANG HUI XIANG LU KAN HANG HUI BIAN / WU DA WEI ZHENG GUO SHI MAO YA PING CHENG YONG HUA YI
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Collation of (for the Journal for college students)(Chinese Edition)(Old-Used)
CHENG DOU ZHONG YI XUE YUAN KAN SHOU DA XUE JIAO CAI ZU XUAN BIAN
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- Tapa blanda
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paperback. Condición: New. Language:Chinese.Pages Number: 387 Publisher: Hunan Arts Pub. Date :2011-7-1. The book tells the story with 51 small and difficult to overcome the crisis. the final victory. Tough times do not last long. and strong people are able to always strong. Many others to follow suit money. job loss. or even re…duced household expenditure. Many people face life's challenges. or encounter natural disasters such as hurricanes and fire struck. Many people in the swing of life at the end. they all face the.
