Yi kan cheng (55 resultados)
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Editorial: Cultural and Historical Data Publishing (collection of books
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Soft cover. Condición: New. Language:Chinese.Author:CONG CHENG DOU SHANG YE YIN HANG KAN JIE FANG QIAN JIN RONG YE JI XING.Binding.Publisher:Cultural and Historical Data Publishing (collection of books.
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Librería: Majestic Books, Hounslow, , Reino UnidoMajestic Books
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Condición: Used. pp. 240.
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Condición: New.
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
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Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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Condición: New. Addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. This book discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration…). Num Pages: 233 pages, 36 black & white illustrations, biography. BIC Classification: TJF; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 234 x 156 x 14. Weight in Grams: 514. . 2000. Hardback. . . . .
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EUR 145,20
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Condición: New. pp. 240.
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EUR 57,38
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Condición: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Electrothermal Analysis of VLSI Systems addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. Part I, The Building Blocks, discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power ana…lysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration). Part II, The Applications, discusses three important applications of VLSI electrothermal analysis including temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement and temperature-driven power and timing analysis. Electrothermal Analysis of VLSI Systems will be useful for researchers in the fields of IC reliability analysis and physical design, as well as VLSI designers and graduate students.
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Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
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Taschenbuch. Condición: Neu. Electrothermal Analysis of VLSI Systems | Yi-Kan Cheng (u. a.) | Taschenbuch | xxiii | Englisch | 2013 | Humana | EAN 9781475773736 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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EUR 168,57
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Condición: New. Addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. This book discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration…). Num Pages: 233 pages, 36 black & white illustrations, biography. BIC Classification: TJF; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 234 x 156 x 14. Weight in Grams: 514. . 2000. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 112,77
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Electrothermal Analysis of VLSI Systems addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. Part I, The Building Blocks, discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including… power analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration). Part II, The Applications, discusses three important applications of VLSI electrothermal analysis including temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement and temperature-driven power and timing analysis. Electrothermal Analysis of VLSI Systems will be useful for researchers in the fields of IC reliability analysis and physical design, as well as VLSI designers and graduate students.
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Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 114,36
Envío por EUR 62,65Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Electrothermal Analysis of VLSI Systems addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. Part I, The Building Blocks, discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power…analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration). Part II, The Applications, discusses three important applications of VLSI electrothermal analysis including temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement and temperature-driven power and timing analysis. Electrothermal Analysis of VLSI Systems will be useful for researchers in the fields of IC reliability analysis and physical design, as well as VLSI designers and graduate students.
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Librería: liu xing, Nanjing, JS, Chinaliu xing
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paperback. Condición: New. Language:Chinese.Paperback. Publisher: People s Transportation.
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Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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Paperback. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
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Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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Hardcover. Condición: Like New. Like New. book.
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
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Librería: liu xing, Nanjing, JS, Chinaliu xing
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EUR 37,32
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paperback. Condición: Good. The TCM Archive granted 1994.1.
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Librería: liu xing, Nanjing, JS, Chinaliu xing
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EUR 37,32
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paperback. Condición: Good. The TCM Archive granted 1994.2.
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paperback. Condición: Good. The TCM Archive granted 1995.3.
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paperback. Condición: Good. Ship out in 2 business day, And Fast shipping, Free Tracking number will be provided after the shipment.The Masayoshi Ohira pass a version of a printed 621Four Satisfaction guaranteed,or money back.
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paperback. Condición: Good. Collation of (for the Journal for college students).
