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    • Idioma: Inglés

      Editorial: John Wiley & Sons, 2000

      047149240X / 9780471492405

      • Tapa dura

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      Gebunden. Condición: New. This reference details the principles of design, calibration, and use of photon emission microscopy (PEM) as a fault localization technique used for analyzing device reliability and failure. (SciTech Book News Vol. 25, No. 2 June 2001)The diminishing .