Semiconductor Device Analysis Using Photon Emission Microscopy

Idioma: inglés

Editorial: John Wiley & Sons, 2000

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This reference details the principles of design, calibration, and use of photon emission microscopy (PEM) as a fault localization technique used for analyzing device reliability and failure. (SciTech Book News Vol. 25, No. 2 June 2001)The diminishing .

N° de ref. del artículo 446916852

Título
Semiconductor Device Analysis Using Photon Emission Microscopy
Autor
WK Chim
Editorial
John Wiley & Sons
Año de publicación
2000
Estado
New
Encuadernación
Encuadernación de tapa dura
Idioma
inglés
ISBN 10
047149240X
ISBN 13
9780471492405

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