Turunen markus (8 resultados)
- Tapa dura
Librería: medimops, Berlin, Alemaniamedimops
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Bueno
EUR 5,45
Envío por EUR 10,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Condición: very good. Gut/Very good: Buch bzw. Schutzumschlag mit wenigen Gebrauchsspuren an Einband, Schutzumschlag oder Seiten. / Describes a book or dust jacket that does show some signs of wear on either the binding, dust jacket or pages.
Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away From the Trial and Error Approach (Microsystems) [Hardcover] [Jan 13, 2012] Laurila, Tomi; Vuorinen, Vesa; Paulasto-Kröckel, Mervi; Turunen, Markus; Mattila, Toni T. and Kivilahti, Jorma
Laurila, Tomi; Vuorinen, Vesa; Paulasto-Kröckel, Mervi; Turunen, Markus; Mattila, Toni T.; Kivilahti, Jorma
- Tapa dura
Librería: StainesBookhub, Weybridge, SURRE, Reino UnidoStainesBookhub
Contactar con el vendedorVendedor de 2 estrellasCondición: Nuevo
EUR 95,97
Envío por EUR 34,99Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: New. A brand new book in pristine condition. Showing zero signs of shelf wear, creases, or damage.
Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach (Microsystems)
Laurila, Tomi; Vuorinen, Vesa; Paulasto-Kröckel, Mervi; Turunen, Markus; Mattila, Toni T.; Kivilahti, Jorma
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 165,57
Envío por EUR 10,93Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In English.
Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach (Microsystems)
Laurila, Tomi; Vuorinen, Vesa; Paulasto-Kröckel, Mervi; Turunen, Markus; Mattila, Toni T.; Kivilahti, Jorma
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 165,57
Envío por EUR 13,17Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In English.
Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach
Laurila, Tomi/ Vuorinen, Vesa/ Paulasto-kröckel, Mervi/ Turunen, Markus/ Mattila, Toni T.
- Tapa blanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 235,01
Envío por EUR 11,66Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Paperback. Condición: Brand New. 240 pages. 9.20x6.10x0.51 inches. In Stock.
- Tapa dura
Librería: Antiquariat Jochen Mohr -Books and Mohr-, Oberthal, AlemaniaAntiquariat Jochen Mohr -Books and Mohr-
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Excelente
EUR 3,95
Envío por EUR 59,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
hardcover. Condición: Sehr gut. 208 Seiten 9783312010011 Wir verkaufen nur, was wir auch selbst lesen würden. Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 278.
Interfacial Compatibility in Microelectronics
Tomi Laurila|Vesa Vuorinen|Mervi Paulasto-Kröckel|Markus Turunen|Toni T. Mattila|Jorma Kivilahti
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 136,16
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides solutions to several common reliability issues in microsystem packagingTeaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materialsCombines thermodynamic-diffusion kinetic model.…
Interfacial Compatibility in Microelectronics
Tomi Laurila|Vesa Vuorinen|Mervi Paulasto-Kröckel|Markus Turunen|Toni T. Mattila|Jorma Kivilahti
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 136,16
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides solutions to several common reliability issues in microsystem packagingTeaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materialsCombines thermodynamic-diffusion kinetic model.…
