Kelvin Probe Force Microscopy : From Single Charge Detection to Device Characterization

Libro 24 de 30: Springer Series in Surface Sciences

Thilo Glatzel

ISBN 10: 3030092984 ISBN 13: 9783030092986
Editorial: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland, 2019
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

Vendido por AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania

Vendedor de AbeBooks desde 14 de agosto de 2006

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Nuevos - Encuadernación de tapa blanda

Condición: Nuevo

Precio:
EUR 235,39
Envío por EUR 64,10
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 1 disponibles

Añadir al carrito