Sheppard john simpson william (40 resultados)

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 1998

    0792382633 / 9780792382638

    Serie: Libro 29 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

    • Tapa dura

    Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 1994

    0792394755 / 9780792394754

    • Tapa dura

    Librería: Librairie Parrêsia, Figeac, FranciaLibrairie Parrêsia

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    Hardcover Aug 31, 1994. Condición: Used: Very Good. Kluwer Academic Publishers, 1994, in-8 cartonnage éditeur, 382 pages. Couverture en bel état, des plus solides. Intérieur frais. Exemplaire de bibliothèque : petit code barre en pied de 1re de couv., cotation au dos, rares et discrets petits tampons à l?intérieur de l?ouvrage. [BT17].

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 1998

    0792382633 / 9780792382638

    Serie: Libro 29 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

    • Tapa dura

    Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de AmericaRomtrade Corp.

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 1998

    0792382633 / 9780792382638

    Serie: Libro 29 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

    • Tapa dura

    Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 1994

    0792394755 / 9780792394754

    • Tapa dura

    Librería: ZBK Books, Carlstadt, NJ, Estados Unidos de AmericaZBK Books

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2012

    1461375355 / 9781461375357

    Serie: Libro 29 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

    • Tapa blanda

    Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 1998

    0792382633 / 9780792382638

    Serie: Libro 29 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

    • Tapa dura

    Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle

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    Condición: Used. pp. 252 1998.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 1994

    0792394755 / 9780792394754

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 1998

    0792382633 / 9780792382638

    Serie: Libro 29 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2012

    146136163X / 9781461361633

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 1998

    0792382633 / 9780792382638

    Serie: Libro 29 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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    Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books

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    Condición: Used. pp. 252 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2012

    1461375355 / 9781461375357

    Serie: Libro 29 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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    Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer US, 1994

    0792394755 / 9780792394754

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    Librería: Buchpark, Trebbin, AlemaniaBuchpark

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    Condición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 398 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | System Test and Diagnosis is the first book on test and diagnosis at the system level, defined as any aggregation of related elements that together form an entity of sufficient complexity for which it is impractical to treat all of the elements at the lowest level of detail. The ideas presented emphasize that it is possible to diagnose complex systems efficiently. Since the notion of system is hierarchical, these ideas are applicable to all levels. The philosophy is presented in the context of a model-based approach, using the information flow model, that focuses on the information provided by the tests rather than the functions embedded in the system. Detailed algorithms are offered for evaluating system testability, performing efficient diagnosis, verifying and validating the models, and constructing an architecture for system maintenance. Several advanced algorithms, not commonly available in existing diagnosis tools, are discussed, including reasoning with inexact or uncertain test data, breaking large problems into manageable smaller problems, diagnosing systems with time sensitive information and time dependent tests and learning from experience. The book is divided into three parts. The first part provides motivation for careful development of the subject and the second part provides the tools necessary for analyzing system testability and computing diagnostic strategies. The third part presents advanced topics in diagnosis. Several case studies are provided, including a single detailed case study. Smaller case studies describe experiences from actual applications of the methods discussed. The detailed case study walks the reader through a complete analysis of a system to illustrate the concepts and describe the analyses that are possible. All case studies are based upon real systems that have been modeled for the purposes of diagnosis. System Test and Diagnosis is the culmination of nearly twelve years of research into diagnosis modeling and its applications. It is designed as a primary reference for engineers and practitioners interested in system test and diagnosis.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 1998

    0792382633 / 9780792382638

    Serie: Libro 29 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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    Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios

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    Condición: Used. pp. 252.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2012

    1461375355 / 9781461375357

    Serie: Libro 29 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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    Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle

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    Condición: New. pp. 248.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 1994

    0792394755 / 9780792394754

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    Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle

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    Condición: New. pp. 400.

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    Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2012

    1461375355 / 9781461375357

    Serie: Libro 29 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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    Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu

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    Taschenbuch. Condición: Neu. Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis | John W. Sheppard (u. a.) | Taschenbuch | Frontiers in Electronic Testing | xiv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461375357 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2012

    146136163X / 9781461361633

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    Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle

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    Condición: New. pp. 400.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Kluwer Academic Publishers, 1994

    0792394755 / 9780792394754

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    Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.

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    Condición: New. This text describes test and diagnosis at the system level. The ideas presented emphasize that it is possible to diagnose complex systems efficiently. Since the notion of system is hierarchical, these ideas are applicable to all levels. Num Pages: 382 pages, biography. BIC Classification: TJFD. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 234 x 156 x 22. Weight in Grams: 735. . 1994. Hardback. . . . .

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, Springer, 2012

    1461375355 / 9781461375357

    Serie: Libro 29 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

    • Tapa blanda

    Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH

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    EUR 223,07

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    Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - 'System level testing is becoming increasingly important. It is driven by the incessant march of complexity . which is forcing us to renew our thinking on the processes and procedures that we apply to test and diagnosis of systems. In fact, the complexity defines the system itself which, for our purposes, is ¿any aggregation of related elements that together form an entity of sufficient complexity for which it is impractical to treat all of the elements at the lowest level of detail . System approaches embody the partitioning of problems into smaller inter-related subsystems that will be solved together. Thus, words like hierarchical, dependence, inference, model, and partitioning are frequent throughout this text. Each of the authors deals with the complexity issue in a similar fashion, but the real value in a collected work such as this is in the subtle differences that may lead to synthesized approaches that allow even more progress. The works included in this volume are an outgrowth of the 2nd International Workshop on System Test and Diagnosis held in Alexandria, Virginia in April 1998. The first such workshop was held in Freiburg, Germany, six years earlier. In the current workshop nearly 50 experts from around the world struggled over issues concerning the subject. In this volume, a select group of workshop participants was invited to provide a chapter that expanded their workshop presentations and incorporated their workshop interactions. While we have attempted to present the work as one volume and requested some revision to the work, the content of the individual chapters was not edited significantly. Consequently, you will see different approaches to solving the same problems and occasional disagreement between authors as to definitions or the importance of factors. . The works collected in this volume represent the state-of-the-art in system test and diagnosis, and the authors are at the leading edge ofthat science. . From the Preface.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Kluwer Academic Publishers, 1994

    0792394755 / 9780792394754

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    Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de AmericaKennys Bookstore

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    EUR 256,24

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    Cantidad disponible: 15 disponibles

    Condición: New. This text describes test and diagnosis at the system level. The ideas presented emphasize that it is possible to diagnose complex systems efficiently. Since the notion of system is hierarchical, these ideas are applicable to all levels. Num Pages: 382 pages, biography. BIC Classification: TJFD. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 234 x 156 x 22. Weight in Grams: 735. . 1994. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 1994

    0792394755 / 9780792394754

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    Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books

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    EUR 245,04

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    Hardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2012

    1461375355 / 9781461375357

    Serie: Libro 29 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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    Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books

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    EUR 258,25

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    Paperback. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2012

    1461375355 / 9781461375357

    Serie: Libro 29 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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    Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer US Okt 2012, 2012

    1461375355 / 9781461375357

    Serie: Libro 29 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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    Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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    Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -'System level testing is becoming increasingly important. It is driven by the incessant march of complexity . which is forcing us to renew our thinking on the processes and procedures that we apply to test and diagnosis of systems. In fact, the complexity defines the system itself which, for our purposes, is ¿any aggregation of related elements that together form an entity of sufficient complexity for which it is impractical to treat all of the elements at the lowest level of detail . System approaches embody the partitioning of problems into smaller inter-related subsystems that will be solved together. Thus, words like hierarchical, dependence, inference, model, and partitioning are frequent throughout this text. Each of the authors deals with the complexity issue in a similar fashion, but the real value in a collected work such as this is in the subtle differences that may lead to synthesized approaches that allow even more progress. The works included in this volume are an outgrowth of the 2nd International Workshop on System Test and Diagnosis held in Alexandria, Virginia in April 1998. The first such workshop was held in Freiburg, Germany, six years earlier. In the current workshop nearly 50 experts from around the world struggled over issues concerning the subject. In this volume, a select group of workshop participants was invited to provide a chapter that expanded their workshop presentations and incorporated their workshop interactions. While we have attempted to present the work as one volume and requested some revision to the work, the content of the individual chapters was not edited significantly. Consequently, you will see different approaches to solving the same problems and occasional disagreement between authors as to definitions or the importance of factors. . The works collected in this volume represent the state-of-the-art in system test and diagnosis, and the authors are at the leading edge of that science. . From the Preface 248 pp. Englisch.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer US, 2012

    146136163X / 9781461361633

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    Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna

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    Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. System Test and Diagnosis is the first book on test and diagnosis at the system level, defined as any aggregation of related elements that together form an entity of sufficient complexity for which it is impractical to treat all of the elements .

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer US, 1998

    0792382633 / 9780792382638

    Serie: Libro 29 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer US, 2012

    1461375355 / 9781461375357

    Serie: Libro 29 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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    Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer US, 1994

    0792394755 / 9780792394754

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    Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna

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    Idioma: Inglés

    Editorial: Springer US, 1998

    0792382633 / 9780792382638

    Serie: Libro 29 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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    Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu

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    Buch. Condición: Neu. Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis | William R. Simpson (u. a.) | Buch | Einband - fest (Hardcover) | Englisch | 1998 | Springer US | EAN 9780792382638 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Heidelberg, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, buchhandel-buch[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.