Pan jwo (9 resultados)
- Tapa dura
Librería: Better World Books: West, Reno, NV, Estados Unidos de AmericaBetter World Books: West
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EUR 93,30
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Condición: Very Good. Pages intact with possible writing/highlighting. Binding strong with minor wear. Dust jackets/supplements may not be included. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
Fatigue Testing and Analysis : Theory and Practice
Lee, Yung-Li (EDT); Pan, Jwo; Hathaway, Richard B.; Barkey, Mark E.
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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Condición: New.
- Tapa dura
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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Fatigue Testing and Analysis : Theory and Practice
Lee, Yung-Li (EDT); Pan, Jwo; Hathaway, Richard B.; Barkey, Mark E.
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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Condición: New.
Fatigue Testing and Analysis : Theory and Practice
Lee, Yung-Li (EDT); Pan, Jwo; Hathaway, Richard B.; Barkey, Mark E.
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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Condición: New. In English.
Fatigue Testing and Analysis : Theory and Practice
Lee, Yung-Li (EDT); Pan, Jwo; Hathaway, Richard B.; Barkey, Mark E.
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 170,26
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
- Tapa blanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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EUR 182,35
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Paperback. Condición: Brand New. 1st edition. 416 pages. 9.00x6.00x0.95 inches. In Stock.
- Tapa dura
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
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EUR 172,15
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Condición: New. Covers the useful techniques for component load measurement and data acquisition, fatigue properties determination, fatigue analysis, and accelerated life test criteria development, and, most importantly, test plans for reliability demonstrations.
