Oikawa t (27 resultados)
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Condición: As New. Unread book in perfect condition. Oikawa, Kenji (ilustrador).
After Redress : Japanese Canadian and Indigenous Struggles for Justice
Mcallister, Kirsten (EDT); Oikawa, Mona (EDT); McAllister, Kirsten Emiko (EDT)
- Tapa blanda
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Condición: New. Oikawa, Kenji (ilustrador).
After Redress : Japanese Canadian and Indigenous Struggles for Justice
Mcallister, Kirsten (EDT); Oikawa, Mona (EDT); McAllister, Kirsten Emiko (EDT)
- Tapa blanda
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After Redress : Japanese Canadian and Indigenous Struggles for Justice
Mcallister, Kirsten (EDT); Oikawa, Mona (EDT); McAllister, Kirsten Emiko (EDT)
- Tapa blanda
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After Redress : Japanese Canadian and Indigenous Struggles for Justice
Mcallister, Kirsten (EDT); Oikawa, Mona (EDT); McAllister, Kirsten Emiko (EDT)
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- Tapa blanda
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Paperback. Condición: Brand New. 2002 edition. 156 pages. 10.25x7.25x0.25 inches. In Stock.
- Tapa blanda
- Primera edición
Librería: Corner of a Foreign Field, Tokyo, TOKYO, JaponCorner of a Foreign Field
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Soft cover. Condición: Very Good. No Jacket. 1st Edition. 2002.Softcover.Very good condition.152 pages.Ships from Japan.Usually ships in 1-2 working days.
After Redress : Japanese Canadian and Indigenous Struggles for Justice
Mcallister, Kirsten (EDT); Oikawa, Mona (EDT); Miki, Roy (EDT)
- Tapa dura
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After Redress : Japanese Canadian and Indigenous Struggles for Justice
Mcallister, Kirsten (EDT); Oikawa, Mona (EDT); Miki, Roy (EDT)
- Tapa dura
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Analytical electron microscopy is one of the most powerful tools today for characterization of the advanced materials that support the nanotechnology of the twenty-first century. In this book the authors clearly explain both the basic principles an…d the latest developments in the field. In addition to a fundamental description of the inelastic scattering process, an explanation of the constituent hardware is provided. Standard quantitative analytical techniques employing electron energy-loss spectroscopy and energy-dispersive X-ray spectroscopy are also explained, along with elemental mapping techniques. Included are sections on convergent beam electron diffraction and electron holography utilizing the field emission gun. With generous use of illustrations and experimental data, this book is a valuable resource for anyone concerned with materials characterization, electron microscopy, materials science, crystallography, and instrumentation.
After Redress : Japanese Canadian and Indigenous Struggles for Justice
Mcallister, Kirsten (EDT); Oikawa, Mona (EDT); Miki, Roy (EDT)
- Tapa dura
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After Redress : Japanese Canadian and Indigenous Struggles for Justice
Mcallister, Kirsten (EDT); Oikawa, Mona (EDT); Miki, Roy (EDT)
- Tapa dura
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Political Economy of East Asian Economic Integration : The Process of the Rcep Negotiations and Beyond
Iwasaki, Fusanori (EDT); Oikawa, Keita (EDT); Urata, Shujiro (EDT)
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Political Economy of East Asian Economic Integration : The Process of the Rcep Negotiations and Beyond
Iwasaki, Fusanori (EDT); Oikawa, Keita (EDT); Urata, Shujiro (EDT)
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Political Economy of East Asian Economic Integration : The Process of the Rcep Negotiations and Beyond
Iwasaki, Fusanori (EDT); Oikawa, Keita (EDT); Urata, Shujiro (EDT)
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Political Economy of East Asian Economic Integration : The Process of the Rcep Negotiations and Beyond
Iwasaki, Fusanori (EDT); Oikawa, Keita (EDT); Urata, Shujiro (EDT)
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Analytical electron microscopy is one of the most powerful tools today for characterization of the advanced materials that support the nanotechnology of the twenty-first century. In this book the authors clearly explain both the bas…ic principles and the latest developments in the field. In addition to a fundamental description of the inelastic scattering process, an explanation of the constituent hardware is provided. Standard quantitative analytical techniques employing electron energy-loss spectroscopy and energy-dispersive X-ray spectroscopy are also explained, along with elemental mapping techniques. Included are sections on convergent beam electron diffraction and electron holography utilizing the field emission gun. With generous use of illustrations and experimental data, this book is a valuable resource for anyone concerned with materials characterization, electron microscopy, materials science, crystallography, and instrumentation. 168 pp. Englisch.
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