Oechsner h edt (2 resultados)
Thin Film and Depth Profile Analysis
Oechsner, H. (EDT); Etzkorn, H.-W. (CON); Hofer, W. O. (CON); Hofmann, S. (CON); Kempf, J. E. (CON)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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Condición: New.
Thin Film and Depth Profile Analysis
Oechsner, H. (EDT); Etzkorn, H.-W. (CON); Hofer, W. O. (CON); Hofmann, S. (CON); Kempf, J. E. (CON)
- Tapa blanda
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