Thin Film and Depth Profile Analysis

Oechsner, H. (EDT); Etzkorn, H.-W. (CON); Hofer, W. O. (CON); Hofmann, S. (CON); Kempf, J. E. (CON)

ISBN 10: 3642465013 ISBN 13: 9783642465017
Editorial: Springer, 2012
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Como Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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