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Electronic Packaging Materials Science: Materials Research Society Symposia Proceedings, Volume 40: Symposium Held November 27-29, 1984, Boston, Massachusetts, U.S.A.
Idioma: Inglés
Publicado por Materials Research Society, 1985
ISBN 10: 0931837057 ISBN 13: 9780931837050
Librería: Star Canyon Books, Woodland, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 27,14
Envío por EUR 4,08
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. Materials Research Society. 1985. Pittsburgh. Hardcover (issued without dust jacket). 8vo. As new copy ( a name in ink top right of front free end-paper). Heavily illustrated with photographs, charts, diagrams, tables, and graphs in black and white. Includes subject index and author index. 417 pages. Next day shipping guaranteed.
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Postmodernism & China
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 38,35
Envío por EUR 2,32
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Postmodernism & China
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 40,57
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Postmodernism & China
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 40,14
Envío por EUR 17,39
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Postmodernism & China
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 41,88
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Elements of Electromigration : Electromigration in 3d Ic Technology
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 58,00
Envío por EUR 2,32
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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Elements of Electromigration : Electromigration in 3d Ic Technology
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 67,46
Envío por EUR 2,32
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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Elements of Electromigration
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 74,18
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Elements of Electromigration : Electromigration in 3d Ic Technology
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 60,26
Envío por EUR 17,39
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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Elements of Electromigration: Electromigration in 3D IC technology
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 73,56
Envío por EUR 7,53
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
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Electronic Packaging Materials Science VIII: Volume 390 (MRS Proceedings, 390).
Idioma: Inglés
Publicado por Materials Research Society, 1995
ISBN 10: 1558992936 ISBN 13: 9781558992931
Librería: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 41,25
Envío por EUR 40,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carrito284 p. Ex-Library Book in good condition. 9781558992931 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 590.
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Elements of Electromigration : Electromigration in 3d Ic Technology
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 68,62
Envío por EUR 17,39
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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Electronic Thin-Film Reliability
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521516137 ISBN 13: 9780521516136
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 85,35
Envío por EUR 2,32
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Electronic Thin-Film Reliability
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521516137 ISBN 13: 9780521516136
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 87,75
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Elements of Electromigration: Electromigration in 3D IC technology
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 86,44
Envío por EUR 3,50
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
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Elements of Electromigration: Electromigration in 3D IC technology
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 74,34
Envío por EUR 17,71
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback / softback. Condición: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
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Electronic Thin-Film Reliability
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521516137 ISBN 13: 9780521516136
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 79,00
Envío por EUR 13,89
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Electronic Thin-Film Reliability
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521516137 ISBN 13: 9780521516136
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 78,98
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Elements Of Electromigration: Electromigration In 3D Ic Technology
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 94,48
Envío por EUR 11,59
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 142 pages. 9.68x6.87x9.61 inches. In Stock.
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Electronic Thin-Film Reliability
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2010
ISBN 10: 0521516137 ISBN 13: 9780521516136
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 91,88
Envío por EUR 10,50
Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Based on a graduate course at UCLA, this book describes reliability and failure of thin films. Num Pages: 412 pages, 186 b/w illus. 23 tables. BIC Classification: TGM; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 247 x 174 x 23. Weight in Grams: 970. . 2010. hardcover. . . . .
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Electronic Thin-Film Reliability
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, GB, 2010
ISBN 10: 0521516137 ISBN 13: 9780521516136
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 109,38
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoHardback. Condición: New. Thin films are widely used in the electronic device industry. As the trend for miniaturization of electronic devices moves into the nanoscale domain, the reliability of thin films becomes an increasing concern. Building on the author's previous book, Electronic Thin Film Science by Tu, Mayer and Feldman, and based on a graduate course at UCLA given by the author, this new book focuses on reliability science and the processing of thin films. Early chapters address fundamental topics in thin film processes and reliability, including deposition, surface energy and atomic diffusion, before moving onto systematically explain irreversible processes in interconnect and packaging technologies. Describing electromigration, thermomigration and stress migration, with a closing chapter dedicated to failure analysis, the reader will come away with a complete theoretical and practical understanding of electronic thin film reliability. Kept mathematically simple, with real-world examples, this book is ideal for graduate students, researchers and practitioners.
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Elements of Electromigration : Electromigration in 3d Ic Technology
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 111,74
Envío por EUR 2,32
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Kinetics in Nanoscale Materials
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 114,27
Envío por EUR 2,32
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Silicon and Silicide Nanowires: Applications, Fabrication, and Properties
Idioma: Inglés
Publicado por Pan Stanford Publishing Pte Ltd, 2013
ISBN 10: 9814303461 ISBN 13: 9789814303460
Librería: Studibuch, Stuttgart, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 54,39
Envío por EUR 62,30
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritohardcover. Condición: Gut. 466 Seiten; 9789814303460.3 Gewicht in Gramm: 1.
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Electronic Thin-Film Reliability
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521516137 ISBN 13: 9780521516136
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 117,06
Envío por EUR 9,22
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Based on a graduate course at UCLA, this book describes reliability and failure of thin films. Num Pages: 412 pages, 186 b/w illus. 23 tables. BIC Classification: TGM; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 247 x 174 x 23. Weight in Grams: 970. . 2010. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Elements of Electromigration : Electromigration in 3d Ic Technology
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 126,37
Envío por EUR 2,32
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Elements of Electromigration: Electromigration in 3D IC technology
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 121,01
Envío por EUR 7,53
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Kinetics in Nanoscale Materials (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 120,38
Envío por EUR 6,80
Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: new.
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Elements of Electromigration : Electromigration in 3d Ic Technology
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 114,02
Envío por EUR 17,39
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Elements of Electromigration: Electromigration in 3D IC technology
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 113,90
Envío por EUR 17,33
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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