Jan ter maten (122 resultados)

Scientific Computing in Electrical Engineering. Proceedings of the SCEE-2002 Conference held in Eindhoven. [Mathematics in Industry, Vol. 4].
Schilders, Wilhelmus H., Maten E. Jan W. ter and Stephan H. M. J. Houben:
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Librería: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, AlemaniaAntiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG
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Hardcover/Pappeinband. Condición: Sehr gut. 432 p. Very good. Shrink wrapped. / Sehr guter Zustand. In Folie verschweißt. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 866.

Scientific computing in electrical engineering. proceedings of the SCEE-2002 conference held in eindhoven.
SCHILDERS, W.H.A. , E.J.W. ter MATEN and S.H.M.J. HOUBEN (eds).
- Tapa dura
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24 cm. original hardcover. 418 pp. many ills, diagrams. references. index. "Mathematics in Industry". -(foot spine bumped, otherwise (very) good). 770g.

Nanoelectronic Coupled Problems Solutions
ter Maten, E. Jan W. (EDT); Brachtendorf, Hans-georg (EDT); Pulch, Roland (EDT); Schoenmaker, Wim (EDT); De Gersem, Herbert (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
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EUR 91,94
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2020
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Condición: New. 1st ed. 2019 edition NO-PA16APR2015-KAP.

Nanoelectronic Coupled Problems Solutions
ter Maten, E. Jan W. (EDT); Brachtendorf, Hans-georg (EDT); Pulch, Roland (EDT); Schoenmaker, Wim (EDT); De Gersem, Herbert (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
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EUR 108,73
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2020
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Designs in nanoelectronics often lead to challenging simulation problems and include strong feedback couplings. Industry demands provisions for variability in order to guarantee quality and yield. It also requires the incorporation of higher abstraction levels to allow for system simulation in order to shorten the design cycles, while at the same time preserving accuracy. The methods developed here promote a methodology for circuit-and-system-level modelling and simulation based on best practice rules, which are used to deal with coupled electromagnetic field-circuit-heat problems, as well as coupled electro-thermal-stress problems that emerge in nanoelectronic designs. This book covers:(1) advanced monolithic/multirate/co-simulation techniques, which are combined with envelope/wavelet approaches to create efficient and robust simulation techniques for strongly coupled systems that exploit the different dynamics of sub-systems within multiphysics problems, and which allow designers to predict reliability and ageing; (2) new generalized techniques in Uncertainty Quantification (UQ) for coupled problems to include a variability capability such that robust design and optimization, worst case analysis, and yield estimation with tiny failure probabilities are possible (including large deviations like 6-sigma); (3) enhanced sparse, parametric Model Order Reduction techniques with a posteriori error estimation for coupled problems and for UQ to reduce the complexity of the sub-systems while ensuring that the operational and coupling parameters can still be varied and that the reduced models offer higher abstraction levels that can be efficiently simulated. All the new algorithms produced were implemented, transferred and tested by the EDA vendor MAGWEL. Validation was conducted on industrial designs provided by end-users from the semiconductor industry, who shared their feedback, contributed to the measurements, and supplied both material data and process data. In closing, a thorough comparison to measurements on real devices was made in order to demonstrate the algorithms' industrial applicability.…

Nanoelectronic Coupled Problems Solutions
ter Maten, E. Jan W. (EDT); Brachtendorf, Hans-georg (EDT); Pulch, Roland (EDT); Schoenmaker, Wim (EDT); De Gersem, Herbert (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 102,10
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Condición: New.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2017
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Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
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EUR 121,05
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Condición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.

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Condición: New. A brand new book in pristine condition. Showing zero signs of shelf wear, creases, or damage.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
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Condición: New. pp. XXX, 587 300 illus., 200 illus. in color. 1st ed. 2019 edition NO-PA16APR2015-KAP.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
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Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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Condición: New. In English.

Nanoelectronic Coupled Problems Solutions
ter Maten, E. Jan W. (EDT); Brachtendorf, Hans-georg (EDT); Pulch, Roland (EDT); Schoenmaker, Wim (EDT); De Gersem, Herbert (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2020
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Taschenbuch. Condición: Neu. Nanoelectronic Coupled Problems Solutions | E. Jan W. Ter Maten (u. a.) | Taschenbuch | Mathematics in Industry | xxx | Englisch | 2020 | Springer | EAN 9783030307288 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. …

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
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Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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Condición: New.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
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Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 97,67
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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Designs in nanoelectronics often lead to challenging simulation problems and include strong feedback couplings. Industry demands provisions for variability in order to guarantee quality and yield. It also requires the incorporation of higher abstraction levels to allow for system simulation in order to shorten the design cycles, while at the same time preserving accuracy. The methods developed here promote a methodology for circuit-and-system-level modelling and simulation based on best practice rules, which are used to deal with coupled electromagnetic field-circuit-heat problems, as well as coupled electro-thermal-stress problems that emerge in nanoelectronic designs. This book covers:(1) advanced monolithic/multirate/co-simulation techniques, which are combined with envelope/wavelet approaches to create efficient and robust simulation techniques for strongly coupled systems that exploit the different dynamics of sub-systems within multiphysics problems, and which allow designers to predict reliability and ageing; (2) new generalized techniques in Uncertainty Quantification (UQ) for coupled problems to include a variability capability such that robust design and optimization, worst case analysis, and yield estimation with tiny failure probabilities are possible (including large deviations like 6-sigma); (3) enhanced sparse, parametric Model Order Reduction techniques with a posteriori error estimation for coupled problems and for UQ to reduce the complexity of the sub-systems while ensuring that the operational and coupling parameters can still be varied and that the reduced models offer higher abstraction levels that can be efficiently simulated. All the new algorithms produced were implemented, transferred and tested by the EDA vendor MAGWEL. Validation was conducted on industrial designs provided by end-users from the semiconductor industry, who shared their feedback, contributed to the measurements, and supplied both material data and process data. In closing, a thorough comparison to measurements on real devices was made in order to demonstrate the algorithms' industrial applicability.…

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EUR 147,00
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Condición: New.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2020
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Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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EUR 120,96
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Paperback. Condición: New. NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.

- Tapa blanda
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 117,28
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book contains the proceedings of the 8th Workshop on Coupled Descriptor Systems held March 2013 in the Castle of Eringerfeld, Geseke in the neighborhood of Paderborn, Germany. It examines the wide range of current research topics in descriptor systems, including mathematical modeling, index analysis, wellposedness of problems, stiffness and different time-scales, cosimulation and splitting methods and convergence analysis. In addition, the book also presents applications from the automotive and circuit industries that show that descriptor systems provide challenging problems from the point of view of both theory and practice. The book contains nine papers and is organized into three parts: control, simulation, and model order reduction. It will serve as an ideal resource for applied mathematicians and engineers, in particular those from mechanics and electromagnetics, who work with coupled differential equations.…

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
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Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de AmericaKennys Bookstore
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EUR 155,08
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Condición: New.

Nanoelectronic Coupled Problems Solutions (Mathematics in Industry)
ter Maten, E. Jan W. (Editor) / Brachtendorf, Hans-Georg (Editor) / Pulch, Roland (Editor) / Schoenmaker, Wim (Editor) / De Gersem, Herbert (Editor)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
- Tapa dura
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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EUR 149,24
Envío por EUR 17,44Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Hardcover. Condición: Brand New. 620 pages. 9.25x6.10x1.54 inches. In Stock.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
- Tapa dura
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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EUR 135,33
Envío por EUR 29,07Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Hardcover. Condición: New. NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Más imágenes- Tapa blanda
Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
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EUR 95,25
Envío por EUR 70,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. Progress in Differential-Algebraic Equations | Deskriptor 2013 | Sebastian Schöps (u. a.) | Taschenbuch | x | Englisch | 2014 | Springer | EAN 9783662449257 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. …

Idioma: Inglés
Editorial: Springer Verlag, 2014
Serie: Libro 4 de 9 - Differential-Algebraic Equations Forum
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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EUR 164,39
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Paperback. Condición: Brand New. 2014 edition. 208 pages. 8.75x6.00x0.50 inches. In Stock.

Scientific Computing in Electrical Engineering : Proceedings of the SCEE-2002 Conference Held in Eindhoven
Schilders, Wilhelmus H. A. (EDT); ter Maten, E. Jan W. (EDT); Houben, Stephan H. M. J. (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 180,26
Envío por EUR 2,32Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

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Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books
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EUR 182,65
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

- Tapa blanda
Librería: Buchmarie, Darmstadt, AlemaniaBuchmarie
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EUR 75,02
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Condición: Very Good.

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Librería: Buchpark, Trebbin, AlemaniaBuchpark
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EUR 78,97
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Condición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 332 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Simulation based on mathematical models plays a major role in computer aided design of integrated circuits (ICs). Decreasing structure sizes, increasing packing densities and driving frequencies require the use of refined mathematical models, and to take into account secondary, parasitic effects. This leads to very high dimensional problems which nowadays require simulation times too large for the short time-to-market demands in industry. Modern Model Order Reduction (MOR) techniques present a way out of this dilemma in providing surrogate models which keep the main characteristics of the device while requiring a significantly lower simulation time than the full model.With Model Reduction for Circuit Simulation we survey the state of the art in the challenging research field of MOR for ICs, and also address its future research directions. Special emphasis is taken on aspects stemming from miniturisations to the nano scale. Contributions cover complexity reduction using e.g., balanced truncation, Krylov-techniques or POD approaches. For semiconductor applications a focus is on generalising current techniques to differential-algebraic equations, on including design parameters, on preserving stability, and on including nonlinearity by means of piecewise linearisations along solution trajectories (TPWL) and interpolation techniques for nonlinear parts. Furthermore the influence of interconnects and power grids on the physical properties of the device is considered, and also top-down system design approaches in which detailed block descriptions are combined with behavioral models. Further topics consider MOR and the combination of approaches from optimisation and statistics, and the inclusion of PDE models with emphasis on MOR for the resulting partial differential algebraic systems. The methods which currently are being developed have also relevance in other application areas such as mechanical multibody systems, and systems arising in chemistry and to biology.The current number of books in the area of MOR for ICs is very limited, so that this volume helps to fill a gap in providing the state of the art material, and to stimulate further research in this area of MOR. Model Reduction for Circuit Simulation also reflects and documents the vivid interaction between three active research projects in this area, namely the EU-Marie Curie Action ToK project O-MOORE-NICE (members in Belgium, The Netherlands and Germany), the EU-Marie Curie Action RTN-project COMSON (members in The Netherlands, Italy, Germany, and Romania), and the German federal project System reduction in nano-electronics (SyreNe).…

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2017
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Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books
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EUR 192,60
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Condición: New.

- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 181,77
Envío por EUR 13,13Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In English.

- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 181,77
Envío por EUR 13,13Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In English.