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Radiation Induced Fault Detection, Diagnosis, and Characterization on FPGAs
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Radiation Induced Fault Detection, Diagnosis, and Characterization on FPGAs
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Radiation Induced Fault Detection, Diagnosis, and Characterization on FPGAs (Paperback or Softback)
Idioma: Inglés
Publicado por Biblioscholar 12/4/2012, 2012
ISBN 10: 1288397496 ISBN 13: 9781288397495
Librería: BargainBookStores, Grand Rapids, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Radiation Induced Fault Detection, Diagnosis, and Characterization on FPGAs
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Radiation Induced Fault Detection, Diagnosis, and Characterization on FPGAs
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Radiation Induced Fault Detection, Diagnosis, and Characterization on FPGAs
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Radiation Induced Fault Detection, Diagnosis, and Characterization on FPGAs
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoCondición: New. KlappentextrnrnThe development of Field Programmable Gate Arrays (FPGAs) has been a great achievement in the world of microelectronics. One of these devices can be programmed to replace the need for thousands of individual specialized devices. D.
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Radiation Induced Fault Detection, Diagnosis, and Characterization on FPGAs
Idioma: Inglés
Publicado por British Library, Historical Print Editions, 2012
ISBN 10: 1288397496 ISBN 13: 9781288397495
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Radiation Induced Fault Detection, Diagnosis, and Characterization on FPGAs
Idioma: Inglés
Publicado por British Library, Historical Print Editions Dez 2012, 2012
ISBN 10: 1288397496 ISBN 13: 9781288397495
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Neuware - The development of Field Programmable Gate Arrays (FPGAs) has been a great achievement in the world of microelectronics. One of these devices can be programmed to replace the need for thousands of individual specialized devices. Despite their great versatility, FPGAs are still extremely vulnerable to radiation from cosmic waves in space. Extensive research has been conducted to examine how radiation disrupts FPGAs. This research incorporates and enhances current methods of radiation detection. A design is created that has the ability to detect flipped bits and delay errors caused by radiation along with their location, amount and duration. All of this is accomplished and reported in real time. The design requires more testing, but once that is done this system can be incorporated with FPGA reconfiguration methods that automatically place application logic away from failing errors of the FPGA. This system has great potential to become a valuable tool in fault mitigation.
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Radiation Induced Fault Detection, Diagnosis, and Characterization on FPGAs
Idioma: Inglés
Publicado por British Library, Historical Print Editions, 2012
ISBN 10: 1288397496 ISBN 13: 9781288397495
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Radiation Induced Fault Detection Diagnosis and Characterization on FPGAs
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 70.
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Radiation Induced Fault Detection Diagnosis and Characterization on FPGAs
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Radiation Induced Fault Detection Diagnosis and Characterization on FPGAs
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
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Radiation Induced Fault Detection, Diagnosis, and Characterization on FPGAs
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
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