Drost robert (44 resultados)
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Hardcover. Condición: Very Good. Jumbo-sized. Very Good - Crisp, clean, unread book with some shelfwear/edgewear, may have a remainder mark - NICE.

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Librería: Midtown Scholar Bookstore, Harrisburg, PA, Estados Unidos de AmericaMidtown Scholar Bookstore
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Hardcover. Condición: Good. Jumbo-sized. Good - Bumped and creased book with tears to the extremities, but not affecting the text block, may have remainder mark or previous owner's name - GOOD.

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Librería: Glands of Destiny First Edition Books, Sedro Woolley, WA, Estados Unidos de AmericaGlands of Destiny First Edition Books
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EUR 45,21
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hardcover. Condición: Like New. First Paperback Edition. Publisher: Fondation Beyeler, 2011. FINE softcover in illustrated/pictorial French wraps, as issued. First Edition in English, First Printing. As new. Pristine.

Philippe Büttner (Hg.): Surrealism in Paris.
Büttner, Philippe; Drost, Julia; Kopp, Robert; Rylands, Philip
Idioma: Inglés
Editorial: Berlin:Hatje Cantz, 2011, 1. Aufl., 290 S., m. farb. Illustrationen, 31 x 25 cm, OPappband (mit Schutzumschlag) / Hardcover (with dust-jacket) (9783775731614) 2012
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- Primera edición
Librería: BuchKunst-Usedom / Kunsthalle, Seebad Ahlbeck, AlemaniaBuchKunst-Usedom / Kunsthalle
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EUR 28,00
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1. Aufl. Surrealism arose during the period between the two World Wars and became one of the most influential artistic and literary movements of the twentieth century. Profoundly marked by the senseless experiences of World War I, the Surrealists, under the leadership of André Breton, took off on a passionate search for freedom…in all of its forms. By incorporating the subconscious into the creative process, they developed completely new forms of expression. Simultaneously, they invented radically new ways of exhibiting their art. This presentational tradition is carried on in both private collections and public museums to this day. Featuring exemplary works by prominent Surrealists-from Salvador Dalí, Max Ernst, and Joan Miró to René Magritte, Yves Tanguy, and Meret Oppenheim-the reader will experience characteristically Surrealist modi operandi as well as Surrealist strategies. It is not only contemporary artists who find sources of inspiration and contemporary references in Surrealism. (Original-eingeschweisstes Ex. - verlagsfrisch! / new - in original wrapping) Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1100 OPappband (mit Schutzumschlag) / Hardcover (with dust-jacket).
Baudelaire Sämtliche Werke / Briefe. Juvenilia Kunstkritik.
Hrsg.von Friedhelm Kemp und Claude Pichois in Zusammenarbeit mit W. Drost und Robert Kopp.
Editorial: München, Heimeran Verlag, 1975. 1975
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Librería: Antiquariat Hans Hammerstein, München, AlemaniaAntiquariat Hans Hammerstein
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EUR 9,00
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origi.Leinenband mit Schutzumschlag, 8°, ca.340 Seiten. Schutzumschlag mit Kratzer und Einriss, sonst gut.
Baudelaire Sämtliche Werke / Nouvelles Fleurs du mal.
Hrsg. von Friedhelm Kemp und Claude Pichois in Zusammenarbeit mit W.Drost und Robert Kopp.
Editorial: München, Heimeran Verlag, 1975. 1975
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Librería: Antiquariat Hans Hammerstein, München, AlemaniaAntiquariat Hans Hammerstein
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EUR 12,00
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origi.Leinenband mit Schutzumschlag, 8°, ca.340 Seiten. neuwertig.
Baudelaire Sämtliche Werke / Briefe. Juvenilia Kunstkritik.
Hrsg.von Friedhelm Kemp und Claude Pichois in Zusammenarbeit mit W.Drost und Robert Kopp.
Editorial: München, Heimeran Verlag, 1975. 1975
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Librería: Antiquariat Hans Hammerstein, München, AlemaniaAntiquariat Hans Hammerstein
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EUR 12,00
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origi.Leinenband mit Schutzumschlag, 8°, ca.340 Seiten. neuwertig.

Baudelaire Sämtliche Werke / Briefe. Nouvelles Fleurs du Mal. Neue Blumen des Bösen Materialien. Band 4.
Hrsg.von Friedhelm Kemp und Claude Pichois in Zusammenarbeit mit W.Drost und Robert Kopp.
Editorial: München, Heimeran Verlag, 1975. 1975
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EUR 14,00
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Original-Leinenband mit Schutzumschlag, 8°, 347 Seiten. Schutzumschlag verblasst sonst guter Zustand.

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Hardback. Condición: New. 2010 ed.

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EUR 140,00
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Taschenbuch. Condición: Neu. Coupled Data Communication Techniques for High-Performance and Low-Power Computing | Ron Ho (u. a.) | Taschenbuch | Integrated Circuits and Systems | xvi | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461426172 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, ju…ergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.

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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Wafer-scale integration has long been the dream of system designers. Instead of chopping a wafer into a few hundred or a few thousand chips, one would just connect the circuits on the entire wafer. What an enormous capability wafer-scale integratio…n would offer: all those millions of circuits connected by high-speed on-chip wires. Unfortunately, the best known optical systems can provide suitably ne resolution only over an area much smaller than a whole wafer. There is no known way to pattern a whole wafer with transistors and wires small enough for modern circuits. Statistical defects present a rmer barrier to wafer-scale integration. Flaws appear regularly in integrated circuits; the larger the circuit area, the more probable there is a aw. If such aws were the result only of dust one might reduce their numbers, but aws are also the inevitable result of small scale. Each feature on a modern integrated circuit is carved out by only a small number of photons in the lithographic process. Each transistor gets its electrical properties from only a small number of impurity atoms in its tiny area. Inevitably, the quantized nature of light and the atomic nature of matter produce statistical variations in both the number of photons de ning each tiny shape and the number of atoms providing the electrical behavior of tiny transistors. No known way exists to eliminate such statistical variation, nor may any be possible.

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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Wafer-scale integration has long been the dream of system designers. Instead of chopping a wafer into a few hundred or a few thousand chips, one would just connect the circuits on the entire wafer. What an enormous capability wafer-scale integration would… offer: all those millions of circuits connected by high-speed on-chip wires. Unfortunately, the best known optical systems can provide suitably ne resolution only over an area much smaller than a whole wafer. There is no known way to pattern a whole wafer with transistors and wires small enough for modern circuits. Statistical defects present a rmer barrier to wafer-scale integration. Flaws appear regularly in integrated circuits; the larger the circuit area, the more probable there is a aw. If such aws were the result only of dust one might reduce their numbers, but aws are also the inevitable result of small scale. Each feature on a modern integrated circuit is carved out by only a small number of photons in the lithographic process. Each transistor gets its electrical properties from only a small number of impurity atoms in its tiny area. Inevitably, the quantized nature of light and the atomic nature of matter produce statistical variations in both the number of photons de ning each tiny shape and the number of atoms providing the electrical behavior of tiny transistors. No known way exists to eliminate such statistical variation, nor may any be possible.

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Paperback. Condición: Brand New. 222 pages. 9.20x6.10x0.51 inches. In Stock.

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Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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EUR 226,75
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Paperback. Condición: Like New. Like New. book.

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EUR 193,93
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Hardback. Condición: New. 2010 ed. Wafer-scale integration has long been the dream of system designers. Instead of chopping a wafer into a few hundred or a few thousand chips, one would just connect the circuits on the entire wafer. What an enormous capability wafer-scale integration would offer: all those millions of circuits c…onnected by high-speed on-chip wires. Unfortunately, the best known optical systems can provide suitably ?ne resolution only over an area much smaller than a whole wafer. There is no known way to pattern a whole wafer with transistors and wires small enough for modern circuits. Statistical defects present a ?rmer barrier to wafer-scale integration. Flaws appear regularly in integrated circuits; the larger the circuit area, the more probable there is a ?aw. If such ?aws were the result only of dust one might reduce their numbers, but ?aws are also the inevitable result of small scale. Each feature on a modern integrated circuit is carved out by only a small number of photons in the lithographic process. Each transistor gets its electrical properties from only a small number of impurity atoms in its tiny area. Inevitably, the quantized nature of light and the atomic nature of matter produce statistical variations in both the number of photons de?ning each tiny shape and the number of atoms providing the electrical behavior of tiny transistors. No known way exists to eliminate such statistical variation, nor may any be possible.

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Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino UnidoChiron Media
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- Primera edición
Librería: Antiquariat UEBUE, Zürich, SuizaAntiquariat UEBUE
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EUR 39,09
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Softcover. Condición: Sehr gut. 1. Auflage. M : 290 Seiten, 304 Abb. - Anhand von beispielhaft präsentierten Werken prominenter Vertreter des Surrealismus, neben Salvador Dalí, Max Ernst und Joan Miró auch René Magritte, Yves Tanguy oder Meret Oppenheim, werden charakteristische Wirkweisen und Strategien des Surrealismus erfahrb…ar. Nicht nur zeitgenössische Künstler finden darin Quellen der Inspiration und aktuelle Bezüge.

Surrealismus in Paris
Philippe Büttner - Julia Drost - Annabelle Görgen; Robert Kopp - Philip Rylands.
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Original Leinenband mit Schutzumschlag, Gr.-4, 290 Seiten Guter Zustand.