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An Introduction to Methods and Models in Ecology, Evolution, and Conservation Biology
Idioma: Inglés
Publicado por Princeton University Press, 2010, 2010
ISBN 10: 0691127247 ISBN 13: 9780691127248
Librería: Virginia Martin, aka bookwitch, Concord, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 31,95
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Añadir al carritoSoft cover. Condición: New. Lorraine Betz Doneker Ilustrador. 1st Edition. Quarto, softcover, new in brown and black pictorial wraps. 261 pp. inluding glossary and index plus list of contributors. introduces undergraduate students to quantitative models and methods in ecology, behavioral ecology, evolutionary biology, and conservation. It explores the core concepts shared by these related fields using tools and practical skills such as experimental design, generating phylogenies, basic statistical inference, and persuasive grant writing. --- featuring a collaborative "active learning" approach that emphasizes hands-on learning. Every chapter has exercises that enable students to work directly with the material at their own pace and in small groups.
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 1998
ISBN 10: 0750305002 ISBN 13: 9780750305006
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 391,57
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, ... 1997 (Institute of Physics Conference Series)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, . 1997 (Institute of Physics Conference)
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 1998
ISBN 10: 0750305002 ISBN 13: 9780750305006
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Doneker, J: Defect Recognition and Image Processing in Semic
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Doneker, J.Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 provides a valuable overview of current techniques used to assess, monitor, and characterize defects from the atomic scale to inhomogeneities in complete silicon wafers. This .
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 1998
ISBN 10: 0750305002 ISBN 13: 9780750305006
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 548 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam This item is printed on demand.
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 : Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 provides a valuable overview of current techniques used to assess, monitor, and characterize defects from the atomic scale to inhomogeneities in complete silicon wafers. This volume addresses advances in defect analyzing techniques and instrumentation and their application to substrates, epilayers, and devices. The book discusses the merits and limits of characterization techniques; standardization; correlations between defects and device performance, including degradation and failure analysis; and the adaptation and application of standard characterization techniques to new materials. It also examines the impressive advances made possible by the increase in the number of nanoscale scanning techniques now available. The book investigates defects in layers and devices, and examines the problems that have arisen in characterizing gallium nitride and silicon carbide.
