De leeuw edith d editor (5 resultados)

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Survey Measurement and Process Quality
Lyberg, Lars E. [Editor]; Biemer, Paul P. [Editor]; Collins, Martin [Editor]; de Leeuw, Edith D. [Editor]; Dippo, Cathryn [Editor]; Schwarz, Norbert [Editor]; Trewin, Dennis [Editor];
Idioma: Inglés
Editorial: Wiley-Interscience, 1997
047116559X / 9780471165590
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Total Survey Error in Practice: Improving Quality in the Era of Big Data
Biemer, Paul P. (Editor)/ De Leeuw, Edith D. (Editor)/ Eckman, Stephanie (Editor)/ Edwards, Brad (Editor)/ Kreuter, Frauke (Editor)
Idioma: Inglés
Editorial: John Wiley & Sons Inc, 2017
1119041678 / 9781119041672
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Survey Measurement and Process Quality
Lyberg, Lars (Editor)/ Biemer, Paul (Editor)/ Collins, Martin (Editor)/ De Leeuw, Edith (Editor)/ Dippo, Cathryn (Editor)/ Schwartz, Norbert (Editor)/ Trewin, Dennis (Editor)
Idioma: Inglés
Editorial: Wiley-Interscience, 1997
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Total Survey Error in Practice: Improving Quality in the Era of Big Data
Biemer, Paul P. (Editor)/ De Leeuw, Edith D. (Editor)/ Eckman, Stephanie (Editor)/ Edwards, Brad (Editor)/ Kreuter, Frauke (Editor)
Idioma: Inglés
Editorial: John Wiley & Sons Inc, 2017
1119041678 / 9781119041672
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Survey Measurement and Process Quality
Lyberg, Lars (Editor)/ Biemer, Paul (Editor)/ Collins, Martin (Editor)/ De Leeuw, Edith (Editor)/ Dippo, Cathryn (Editor)/ Schwartz, Norbert (Editor)/ Trewin, Dennis (Editor)
Idioma: Inglés
Editorial: Wiley-Interscience, 1997
047116559X / 9780471165590
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Hardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 777 pages. 9.50x6.25x1.75 inches. In Stock. This item is printed on demand.

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