EUR 5,55
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Bon. Ancien livre de bibliothèque. Traces d'usure sur la couverture. Edition 1987. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Signs of wear on the cover. Edition 1987. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
EUR 168,74
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Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
EUR 153,41
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
EUR 156,37
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
EUR 174,14
Cantidad disponible: 10 disponibles
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
EUR 171,49
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Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
Idioma: Inglés
Publicado por Brill Academic Publishers, 1987
ISBN 10: 9067640786 ISBN 13: 9789067640787
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
EUR 190,78
Cantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 138.
EUR 170,17
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Añadir al carritoCondición: New. V. CherepinThis volume is devoted to the physics, instrumentation and analytical methods of secondary ion mass spectroscopy (SIMS) in relation to solid surfaces. It describes modern models of secondary ion formation and the factors influencin.
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
EUR 223,87
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good. Very Good. book.
EUR 203,65
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - This volume is devoted to the physics, instrumentation and analytical methods of secondary ion mass spectroscopy (SIMS) in relation to solid surfaces. It describes modern models of secondary ion formation and the factors influencing sensitivity of measurements and the range of applications. All the main parts of SIMS instruments are discussed in detail. Emphasising practical applications the book also considers the methods and analytical procedures for constitutional analysis of solids --- including metals, semiconductors, organic and biological samples. Methods of depth profiling, spatially multidimensional analysis and study of processes at the surface, such as adsorption, catalysis and oxidation, are given along with the application of SIMS in combination with other methods of surface analysis.
Idioma: Inglés
Publicado por Brill Academic Publishers, 1987
ISBN 10: 9067640786 ISBN 13: 9789067640787
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
EUR 182,13
Cantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 138 This item is printed on demand.
Idioma: Inglés
Publicado por Brill Academic Publishers, 1987
ISBN 10: 9067640786 ISBN 13: 9789067640787
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
EUR 201,57
Cantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND pp. 138.