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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy (Paperback or Softback)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press 11/23/2006, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Librería: BargainBookStores, Grand Rapids, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press 2006-11-23, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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Characterization Of High Tc Materials And Devices By Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
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Characterization Of High Tc Materials And Devices By Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
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Characterization Of High Tc Materials And Devices By Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
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CHARACTERIZATION OF HIGH TC MATERIALS AND DEVICES BY ELECTRON MICROSCOPY
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
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Añadir al carritoCondición: New. A comprehensive account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Editor(s): Browning, Nigel D.; Pennycook, Stephen. Num Pages: 408 pages, 267 b/w illus. 3 tables. BIC Classification: PHFC; TGM. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 247 x 174 x 21. Weight in Grams: 650. . 2006. Illustrated. paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This is a clear account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Written by leading experts, this compilation provides a comprehensive review of scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and scanning transmission electron microscopy, together with details of each technique and its applications. Introductory chapters cover the basics of high-resolution transmission electron microscopy, including a chapter devoted to specimen preparation techniques, and microanalysis by scanning transmission electron microscopy. Ensuing chapters examine identification of superconducting compounds, imaging of superconducting properties by low-temperature scanning electron microscopy, imaging of vortices by electron holography and electronic structure determination by electron energy loss spectroscopy. The use of scanning tunnelling microscopy for exploring surface morphology, growth processes and the mapping of superconducting carrier distributions is discussed. Final chapters consider applications of electron microscopy to the analysis of grain boundaries, thin films and device structures. Detailed references are included.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2015
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoCondición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 406 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | A comprehensive account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoCondición: New. A comprehensive account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Editor(s): Browning, Nigel D.; Pennycook, Stephen J. Num Pages: 406 pages, 267 b/w illus. 3 tables. BIC Classification: PHFC; PHK; TGM. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 247 x 174 x 24. Weight in Grams: 1125. . 2000. Illustrated. hardcover. . . . .
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Edición internacionalCharacterization Of High Tc Materials And Devices By Electron Microscopy
Librería: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Reino Unido
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 202,40
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 242,80
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy (Paperback)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, Cambridge, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Librería: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, Estados Unidos de America
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 406 pages. 9.30x6.70x1.00 inches. In Stock. This item is printed on demand.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoPaperback / softback. Condición: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy (Paperback)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, Cambridge, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Librería: CitiRetail, Stevenage, Reino Unido
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This is a clear account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Written by leading experts, it provides a comprehensive review of scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and scanning .
