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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 12,19
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 4,12
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Añadir al carritoCondición: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Clean from markings. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1200grams, ISBN:9780521554909.
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Oxygen, Carbon, Hydrogen and Nitrogen in Crystalline Silicon: Symposiumheld December 2-5, 1985, Boston, Massachusetts, U.S.A. (Materials Research Society Symposia Proceedings)
Idioma: Inglés
Publicado por Materials Research Society, 1986
ISBN 10: 0931837243 ISBN 13: 9780931837241
Librería: GuthrieBooks, Spring Branch, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 32,02
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Oxygen, Carbon, Hydrogen and Nitrogen in Crystalline Silicon (Materials Research Society Symposia Proceedings, Volume 59)
Idioma: Inglés
Publicado por Materials Research Society, 1986
ISBN 10: 0931837243 ISBN 13: 9780931837241
Librería: BookDepart, Shepherdstown, WV, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 31,14
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Añadir al carritoHardcover. Condición: UsedGood. Hardcover; symposium held December 2-5, 1985, in Boston, Massachusetts; surplus library copy with the usual stampings; reference number taped to spine; light fading and shelf wear to exterior; otherwise in good condition with clean text, firm binding.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 55,32
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy (Paperback or Softback)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press 11/23/2006, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Librería: BargainBookStores, Grand Rapids, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 57,67
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 59,36
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 61,44
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press 2006-11-23, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 58,28
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Handbook of Nanoscopy, 2 Vols.
Librería: Ammareal, Morangis, Francia
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OportunidadEUR 59,04
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Handbook of Nanoscopy, 2 Vols.
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Handbook of Nanoscopy, 2 Vols.
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Oxygen, Carbon, Hydrogen and Nitrogen in Crystalline Silicon: Symposiumheld December 2-5, 1985, Boston, Massachusetts, U.S.A. (Materials Research Society Symposia Proceedings)
Idioma: Inglés
Publicado por Materials Research Society, 1986
ISBN 10: 0931837243 ISBN 13: 9780931837241
Librería: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 79,99
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 68,85
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Añadir al carritoCondición: New. A comprehensive account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Editor(s): Browning, Nigel D.; Pennycook, Stephen. Num Pages: 408 pages, 267 b/w illus. 3 tables. BIC Classification: PHFC; TGM. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 247 x 174 x 21. Weight in Grams: 650. . 2006. Illustrated. paperback. . . . .
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Characterization Of High Tc Materials And Devices By Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 81,51
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Añadir al carritoCondición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Characterization Of High Tc Materials And Devices By Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 81,72
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Añadir al carritoCondición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 64,69
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CHARACTERIZATION OF HIGH TC MATERIALS AND DEVICES BY ELECTRON MICROSCOPY
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 84,54
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Characterization Of High Tc Materials And Devices By Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 84,78
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Añadir al carritoCondición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 84,41
Envío por EUR 9,03
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Añadir al carritoCondición: New. A comprehensive account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Editor(s): Browning, Nigel D.; Pennycook, Stephen. Num Pages: 408 pages, 267 b/w illus. 3 tables. BIC Classification: PHFC; TGM. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 247 x 174 x 21. Weight in Grams: 650. . 2006. Illustrated. paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2015
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 29,90
Envío por EUR 105,00
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Añadir al carritoCondición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 406 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | A comprehensive account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 77,84
Envío por EUR 63,51
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This is a clear and up-to-date account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Written by leading experts, this compilation provides a comprehensive review of scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and scanning transmission electron microscopy, together with details of each technique and its applications. Introductory chapters cover the basics of high-resolution transmission electron microscopy, including a chapter devoted to specimen preparation techniques and microanalysis by scanning transmission electron microscopy. Ensuing chapters examine identification of new superconducting compounds, imaging of superconducting properties by low-temperature scanning electron microscopy, imaging of vortices by electron holography and electronic structure determination by electron energy loss spectroscopy. The use of scanning tunneling microscopy for exploring surface morphology, growth processes and the mapping of superconducting carrier distributions is also discussed. Final chapters consider applications of electron microscopy to the analysis of grain boundaries, thin films and device structures. Detailed references are included. This book will interest graduate students and researchers in condensed matter physics and material science.
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Handbook of Nanoscopy
Librería: Ammareal, Morangis, Francia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
OportunidadEUR 136,80
Envío por EUR 16,50
Se envía de Francia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Bon. Ancien livre de bibliothèque avec équipements. Edition 2012. Tome 1. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Edition 2012. Volume 1. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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Oxygen, Carbon, Hydrogen and Nitrogen in Crystalline Silicon Symposiumheld December 2-5, 1985, Boston, Massachusetts, U. S. A.
Idioma: Inglés
Publicado por Materials Research Society, Warrendale, PA, 1986
ISBN 10: 0931837243 ISBN 13: 9780931837241
Librería: True Oak Books, Highland, NY, Estados Unidos de America
Miembro de asociación: IOBA
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 177,20
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Good+. Estado de la sobrecubierta: No Dust Jacket. Materials Research Society Symposia Proceedings; 6.5 X 1.75 X 9.5 inches; 579 pages; graphs. Ex-Library copy with usual identifiers. Minor yellowing on pages. Very Good condition otherwise. No other noteworthy defects. No markings on text pages. ; - Your satisfaction is our priority. We offer free returns and respond promptly to all inquiries. Your item will be carefully cushioned in bubble wrap and securely boxed. All orders ship on the same or next business day. Buy with confidence. 1st Edition (Unstated); No Printing Stated.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 167,53
Envío por EUR 13,73
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 187,84
Gastos de envío gratis
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Añadir al carritoCondición: New.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 193,25
Envío por EUR 10,50
Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. A comprehensive account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Editor(s): Browning, Nigel D.; Pennycook, Stephen J. Num Pages: 406 pages, 267 b/w illus. 3 tables. BIC Classification: PHFC; PHK; TGM. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 247 x 174 x 24. Weight in Grams: 1125. . 2000. Illustrated. hardcover. . . . .
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Edición internacionalCharacterization Of High Tc Materials And Devices By Electron Microscopy
Librería: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 204,14
Envío por EUR 6,87
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
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