Bashir al hashimi (121 resultados)
- Tapa dura
Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino UnidoAnybook.com
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EUR 11,31
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Condición: Good. Volume 18. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1550grams, ISBN:9780863415524.
- Tapa dura
Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino UnidoAnybook.com
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EUR 12,16
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Condición: Fair. Volume 18. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In fair condition, suitable as a study copy. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1550grams, ISBN:9780863415524.
- Tapa dura
Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino UnidoAnybook.com
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EUR 16,45
Envío por EUR 18,29Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: Good. Volume 18. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1550grams, ISBN:9780863415524.
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Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de AmericaRomtrade Corp.
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EUR 77,26
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Condición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2003
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 11 de 40. Libro 11 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
Librería: Peak Pearl LLC, Holly Springs, NC, Estados Unidos de AmericaPeak Pearl LLC
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EUR 81,59
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Hardcover. Condición: As New. Like new, never been used.
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Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 89,78
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Condición: Used. pp. 220.
Editorial: The Institution of Electrical Engineers, London 2006
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Librería: PsychoBabel & Skoob Books, Didcot, Reino UnidoPsychoBabel & Skoob Books
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EUR 41,11
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hardcover. Condición: Very Good. No Dust Jacket. Hard cover with no jacket. Book is in very good condition. Very light wear in a few places at edges and corners. Previous owner's name to FEP. Thin mark vertically down inside of cover. Contents are otherwise clean, bright and tight. J. Used.
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Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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EUR 90,87
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Condición: Used. pp. 220 Illus.
- Tapa dura
Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
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EUR 89,96
Envío por EUR 9,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: Used. pp. 220.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 11 de 40. Libro 11 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 117,26
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Condición: New.
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EUR 117,26
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Condición: New.
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Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books
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EUR 119,67
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Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 11 de 40. Libro 11 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa blanda
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books
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EUR 119,67
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2003
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 11 de 40. Libro 11 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 115,83
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Condición: New. In.
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Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 115,83
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Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 11 de 40. Libro 11 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 115,83
Envío por EUR 13,91Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 11 de 40. Libro 11 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 115,81
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Condición: New.
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 115,81
Envío por EUR 17,41Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: The Institution of Engineering and Technology 2006
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 143,41
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Condición: New.
- Tapa dura
- Edición internacional
Librería: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Reino UnidoUK BOOKS STORE
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EUR 142,23
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Condición: New. Brand New! Fast Delivery This is an International Edition and ship within 24-48 hours. Deliver by FedEx and Dhl, & Aramex, UPS, & USPS and we do accept APO and PO BOX Addresses. Order can be delivered worldwide within 6-10 days and we do have flat rate for up to 2LB. Extra shipping charges will be requested if th…e Book weight is more than 5 LB. This Item May be shipped from India, United states & United Kingdom. Depending on your location and availability.
- Tapa dura
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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EUR 133,44
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Condición: New. Addresses the development and validation of co-synthesis techniques that allow an effective design of embedded systems with low energy dissipation. This book provides an overview of a system-level co-design flow, illustrating how system performance is influenced at various steps of the flow including allocation,…mapping, and scheduling. Num Pages: 194 pages, biography. BIC Classification: TJFD1. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 235 x 155 x 14. Weight in Grams: 1080. . 2003. Hardback. . . . .
Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Nicolici, Nicola (McMaster University, Hamilton, Ontario, Canada); Al-Hashimi, Bashir M.
Idioma: Inglés
Editorial: Kluwer Academic Publishers 2003
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 11 de 40. Libro 11 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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EUR 132,90
Envío por EUR 10,50Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New. Focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. This text surveys existing techniques and presents several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data path…s. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 189 pages, biography. BIC Classification: TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 297 x 210 x 12. Weight in Grams: 990. . 2003. Hardback. . . . .
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 11 de 40. Libro 11 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa blanda
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 147,36
Envío por EUR 3,51Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. pp. 192.
- Tapa blanda
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 147,67
Envío por EUR 3,51Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. pp. 214.
Idioma: Inglés
Editorial: The Institution of Engineering and Technology 2019
Serie: Computing and Networks, Libro 9 de 16. Libro 9 de 16 - Computing and Networks
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 148,99
Envío por EUR 2,32Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: The Institution of Engineering and Technology 2019
Serie: Computing and Networks, Libro 9 de 16. Libro 9 de 16 - Computing and Networks
- Tapa dura
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books
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EUR 151,40
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: The Institution of Engineering and Technology 2019
Serie: Computing and Networks, Libro 9 de 16. Libro 9 de 16 - Computing and Networks
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 149,48
Envío por EUR 2,32Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 142,77
Envío por EUR 13,91Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: The Institution of Engineering and Technology 2006
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 143,98
Envío por EUR 13,91Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: The Institution of Engineering and Technology 2006
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 143,97
Envío por EUR 17,41Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
