System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability (Volume .) (Systems on Silicon, Volume .)

Touba, Nur A.,Stroud, Charles E.,Wang, Laung-Terng

ISBN 10: 012373973X ISBN 13: 9780123739735
Editorial: Morgan Kaufmann, 2007
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Aceptable Encuadernación de tapa dura

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