System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability: Volume . (Systems on Silicon)

Laung-Terng Wang

ISBN 10: 012373973X ISBN 13: 9780123739735
Editorial: Morgan Kaufmann 2007-12-28, 2007
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

Vendido por Chiron Media, Wallingford, Reino Unido

Vendedor de AbeBooks desde 2 de agosto de 2010

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Nuevos - Encuadernación de tapa dura

Condición: Nuevo

Precio:
EUR 63,50
Envío por EUR 17,75
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

Añadir al carrito