Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August . (Lecture Notes in Computer Science)

Yeung, Dit-Yan [Editor]; Kwok, James T. [Editor]; Fred, Ana [Editor]; Roli, Fabio [Editor]; de Ridder, Dick [Editor];

ISBN 10: 3540372369 ISBN 13: 9783540372363
Editorial: Springer, 2006
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Bueno Encuadernación de tapa blanda

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