Digital Timing Macromodeling for VLSI Design Verification (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 319)

Kong, Jeong-Taek; Overhauser, David V.

ISBN 10: 0792395808 ISBN 13: 9780792395805
Editorial: Springer, 1995
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Digital Timing Macromodeling for VLSI Design Verification first of all provides an extensive history of the development of simulation techniques. It presents detailed discussion of the various techniques implemented in circuit, timing, fast-timing, switch-level timing, switch-level, and gate-level simulation. It also discusses mixed-mode simulation and interconnection analysis methods. The review in Chapter 2 gives an understanding of the advantages and disadvantages of the many techniques applied in modern digital macromodels.
The book also presents a wide variety of techniques for performing nonlinear macromodeling of digital MOS subcircuits which address a large number of shortcomings in existing digital MOS macromodels. Specifically, the techniques address the device model detail, transistor coupling capacitance, effective channel length modulation, series transistor reduction, effective transconductance, input terminal dependence, gate parasitic capacitance, the body effect, the impact of parasitic RC-interconnects, and the effect of transmission gates. The techniques address major sources of errors in existing macromodeling techniques, which must be addressed if macromodeling is to be accepted in commercial CAD tools by chip designers. The techniques presented in Chapters 4-6 can be implemented in other macromodels, and are demonstrated using the macromodel presented in Chapter 3. The new techniques are validated over an extremely wide range of operating conditions: much wider than has been presented for previous macromodels, thus demonstrating the wide range of applicability of these techniques.

Reseña del editor: Digital Timing Macromodeling for VLSI Design Verification first of all provides an extensive history of the development of simulation techniques. It presents detailed discussion of the various techniques implemented in circuit, timing, fast-timing, switch-level timing, switch-level, and gate-level simulation. It also discusses mixed-mode simulation and interconnection analysis methods. The review in Chapter 2 gives an understanding of the advantages and disadvantages of the many techniques applied in modern digital macromodels.
The book also presents a wide variety of techniques for performing nonlinear macromodeling of digital MOS subcircuits which address a large number of shortcomings in existing digital MOS macromodels. Specifically, the techniques address the device model detail, transistor coupling capacitance, effective channel length modulation, series transistor reduction, effective transconductance, input terminal dependence, gate parasitic capacitance, the body effect, the impact of parasitic RC-interconnects, and the effect of transmission gates. The techniques address major sources of errors in existing macromodeling techniques, which must be addressed if macromodeling is to be accepted in commercial CAD tools by chip designers. The techniques presented in Chapters 4-6 can be implemented in other macromodels, and are demonstrated using the macromodel presented in Chapter 3. The new techniques are validated over an extremely wide range of operating conditions: much wider than has been presented for previous macromodels, thus demonstrating the wide range of applicability of these techniques.

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Título: Digital Timing Macromodeling for VLSI Design...
Editorial: Springer
Año de publicación: 1995
Encuadernación: Encuadernación de tapa dura
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Kong, Jeong-Taek; Overhauser, David
ISBN 10: 0792395808 ISBN 13: 9780792395805
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David V. Overhauser, Jeong-Taek Kong
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Jeong-Taek Kong|David V. Overhauser
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Kong, Jeong-Taek; Overhauser, David V.
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Digital Timing Macromodeling for VLSI Design Verification first of all provides an extensive history of the development of simulation techniques. It presents detailed discussion of the various techniques implemented in circuit, timing, fast-timing, switch-level timing, switch-level, and gate-level simulation. It also discusses mixed-mode simulation and interconnection analysis methods. The review in Chapter 2 gives an understanding of the advantages and disadvantages of the many techniques applied in modern digital macromodels.The book also presents a wide variety of techniques for performing nonlinear macromodeling of digital MOS subcircuits which address a large number of shortcomings in existing digital MOS macromodels. Specifically, the techniques address the device model detail, transistor coupling capacitance, effective channel length modulation, series transistor reduction, effective transconductance, input terminal dependence, gate parasitic capacitance, the body effect, the impact of parasitic RC-interconnects, and the effect of transmission gates. The techniques address major sources of errors in existing macromodeling techniques, which must be addressed if macromodeling is to be accepted in commercial CAD tools by chip designers. The techniques presented in Chapters 4-6 can be implemented in other macromodels, and are demonstrated using the macromodel presented in Chapter 3. The new techniques are validated over an extremely wide range of operating conditions: much wider than has been presented for previous macromodels, thus demonstrating the wide range of applicability of these techniques.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 292 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9780792395805

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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Digital Timing Macromodeling for VLSI Design Verification first of all provides an extensive history of the development of simulation techniques. It presents detailed discussion of the various techniques implemented in circuit, timing, fast-timing, switch-level timing, switch-level, and gate-level simulation. It also discusses mixed-mode simulation and interconnection analysis methods. The review in Chapter 2 gives an understanding of the advantages and disadvantages of the many techniques applied in modern digital macromodels. The book also presents a wide variety of techniques for performing nonlinear macromodeling of digital MOS subcircuits which address a large number of shortcomings in existing digital MOS macromodels. Specifically, the techniques address the device model detail, transistor coupling capacitance, effective channel length modulation, series transistor reduction, effective transconductance, input terminal dependence, gate parasitic capacitance, the body effect, the impact of parasitic RC-interconnects, and the effect of transmission gates. The techniques address major sources of errors in existing macromodeling techniques, which must be addressed if macromodeling is to be accepted in commercial CAD tools by chip designers. The techniques presented in Chapters 4-6 can be implemented in other macromodels, and are demonstrated using the macromodel presented in Chapter 3. The new techniques are validated over an extremely wide range of operating conditions: much wider than has been presented for previous macromodels, thus demonstrating the wide range of applicability of these techniques. Nº de ref. del artículo: 9780792395805

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Jeong-Taek Kong David V. Overhauser
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Kong Jeong-Taek Overhauser David V.
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