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Random Testing of Digital Circuits : Theory and Application
Idioma: Inglés
Publicado por Marcel Dekker Inc., New York, NY, U.S.A., 1998
ISBN 10: 0824701828 ISBN 13: 9780824701826
Librería: PsychoBabel & Skoob Books, Didcot, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 29,60
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Random Testing of Digital Circuits: Theory and Applications
Librería: SHIMEDIA, Brooklyn, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 89,37
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Random Testing of Digital Circuits : Theory and Applications
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 16,00
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoCondición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 496 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Random Testing Of Digital Circuits: Theory And Applications
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Random Testing of Digital Circuits : Theory & Application
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Random Testing of Digital Circuits : Theory & Application
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Random Testing of Digital Circuits : Theory & Application
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Random Testing of Digital Circuits : Theory & Application
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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