Una rassegna di alcuni algoritmi di rilevamento di caratteristiche locali

Zhang, John|Sun, Tao

ISBN 10: 6207393619 ISBN 13: 9786207393619
Editorial: OmniScriptum|Edizioni Sapienza, 2024
Idioma: Italiano
Nuevos Condición: New Encuadernación de tapa blanda

Librería: moluna, Greven, Alemania

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