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Una rassegna di alcuni algoritmi di rilevamento di caratteristiche locali - Tapa blanda

 
9786207393619: Una rassegna di alcuni algoritmi di rilevamento di caratteristiche locali

Sinopsis

Con l'aumento dell'importanza dell'intelligenza artificiale e del riconoscimento facciale nelle applicazioni, le tecniche di rilevamento delle caratteristiche locali vengono applicate sempre più spesso. Negli ultimi decenni sono stati sviluppati diversi algoritmi di rilevamento delle caratteristiche locali. La scelta dell'algoritmo più adatto per un'applicazione è un compito impegnativo. Questo libro passa in rassegna alcuni algoritmi di rilevamento delle caratteristiche locali e aiuta nella selezione degli algoritmi nelle applicazioni.

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  • EditorialEdizioni Sapienza
  • Año de publicación2024
  • ISBN 10 6207393619
  • ISBN 13 9786207393619
  • EncuadernaciónTapa blanda
  • IdiomaItaliano
  • Número de páginas88
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John Zhang
Publicado por Edizioni Sapienza Apr 2024, 2024
ISBN 10: 6207393619 ISBN 13: 9786207393619
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Zhang, John|Sun, Tao
Publicado por OmniScriptum|Edizioni Sapienza, 2024
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