High-Resolution Electron Microscopy for Materials Science. Este artículo no está disponible.
Idioma: inglés
Editorial: Springer Japan, 1998
- Primera edición
- Tapa blanda
- Usado
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N° de ref. del artículo 56062425-6
- Título
- High-Resolution Electron Microscopy for Materials Science
- Autor
- Shindo, Daisuke; Kenji, Hiraga
- Editorial
- Springer Japan
- Año de publicación
- 1998
- Estado
- Good
- Encuadernación
- Encuadernación de tapa blanda
- Idioma
- inglés
- ISBN 10
- 4431702342
- ISBN 13
- 9784431702344
- Edición
- 1st Edition.
- Peso del artículo
- 1,367 libras
- Dimensiones
- N/A
High-resolution electron microscopy (H.R.E.M.) has become a most powerful method for investigating the internal structure of materials on an atomic scale of around 0.1 nm. The authors clearly explain both the theory and practice of H.R.E.M. for materials science.
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Acerca del autor
Charlotte y Peter Fiell son dos autoridades en historia, teoría y crítica del diseño y han escrito más de sesenta libros sobre la materia, muchos de los cuales se han convertido en éxitos de ventas. También han impartido conferencias y cursos como profesores invitados, han comisariado exposiciones y asesorado a fabricantes, museos, salas de subastas y grandes coleccionistas privados de todo el mundo. Los Fiell han escrito numerosos libros para TASCHEN, entre los que se incluyen 1000 Chairs, Diseño del siglo XX, El diseño industrial de la A a la Z, Scandinavian Design y Diseño del siglo XXI.
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